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掃描電子顯微分析/中國分析測試技術叢書

  • 作者：編者:姚琲//崔蘭//趙文霞|責編:馬澤林//杜進祥|總主編:李景虹
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122466501
  • 出版日期：2025/12/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：391
人民幣：RMB 168 元      售價：元
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內容大鋼
    《掃描電子顯微分析》是「中國分析測試技術叢書」的一個分冊。
    本書系統介紹了掃描電子顯微分析的顯微形貌、成分、結構分析及相關技術，全面闡述了各種與掃描電鏡相關聯的顯微分析原理、儀器結構、樣品製備、定性定量方法及典型應用案例，突出反映新原理、新技術和新成果。內容包括：緒論、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線能譜儀和波譜儀、電子背散射衍射儀、聚焦離子束等分析技術，還包括樣品製備、掃描電鏡的擴展與聯用技術。
    本書融合作者40多年材料電子顯微分析研究和教學經驗，內容實用，可供從事分析測試工作，尤其是電子顯微分析的科技工作者和有關管理人員閱讀，也可供高等院校材料、化學、化工、生物、環境、地質、醫學、機械、電子及相關專業師生參考。
作者介紹
編者:姚琲//崔蘭//趙文霞|責編:馬澤林//杜進祥|總主編:李景虹
目錄
第一章  緒論
  第一節  掃描電子顯微分析的基礎功能
    一、顯微形貌
    二、成分分析
    三、晶體結構分析
  第二節  掃描電子顯微技術的擴展
    一、束閘技術
    二、陰極熒光技術
    三、超快技術
    四、高通量和多電子束技術
    五、離線軟體
  第三節  掃描電子顯微聯用技術
    一、光電關聯分析技術
    二、拉曼譜儀與掃描電鏡聯用技術
    三、掃描探針顯微鏡與掃描電鏡聯用技術
    四、聚焦離子束掃描電鏡
  第四節  掃描電子顯微分析技術的前沿應用與展望
    一、掃描電子顯微分析技術的前沿應用
    二、掃描電子顯微分析技術展望
  參考文獻
第二章  掃描電子顯微鏡分析
  第一節  概述
    一、掃描電鏡的發展簡史
    二、掃描電鏡的種類
  第二節  電子與物質的相互作用
    一、電子散射
    二、電子束與樣品相互作用產生的信息
    三、相互作用的蒙特卡羅模擬
    四、薄膜樣品相互作用體積
    五、電子束損傷
  第三節  掃描電鏡的原理與結構
    一、掃描電鏡的基本原理
    二、掃描電鏡的結構
  第四節  掃描電鏡探測器
    一、二次電子探測器
    二、背散射電子探測器
    三、鏡筒內探測器
    四、掃描透射電子探測器
    五、陰極熒光探測器
    六、聲子探測器
    七、聲子像
  第五節  掃描電鏡圖像
    一、二次電子像
    二、背散射電子像
    三、吸收電流像
    四、透射電子像
    五、束感生電流像
    六、陰極熒光像
    七、聲子像
  第六節  掃描電鏡圖像襯度

    一、襯度的形成原理
    二、襯度的分類
  ……
第三章  電子探針
第四章  X射線顯微分析
第五章  電子背散射衍射分析
第六章  聚集離子束
第七章  樣品製備
第八章  掃描電鏡的擴展與聯用技術
本書縮寫符號表
索引

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