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集成電路測試技術項目教程(活頁式高等職業教育智能光電技術應用專業群產教融合新形態教材)

  • 作者:編者:楊莉//孟奕峰//于曉波|責編:李華宇
  • 出版社:西南交大
  • ISBN:9787564396114
  • 出版日期:2023/11/01
  • 裝幀:活頁
  • 頁數:262
人民幣:RMB 67 元      售價:
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內容大鋼
    本書系成都職業技術學院中國特色高水平專業群產教融合項目建設成果之一,基於本教材是基於集成電路測試工藝虛擬模擬教學平台和企業測試機來設計各個項目,共有11個項目、29個任務,注重職業崗位的基本知識和基本實操技能。項目1?項目4主要基於集成電路測試工藝虛擬模擬教學平台介紹扎針測試、晶圓打點與烘烤、平移式分選機測試、料盤外觀檢查等集成電路測試工藝;項目5?項目9主要基於大賽和1+X證書集成電路測試平台介紹常見的集成電路晶元測試;項目10主要介紹集成電路測試平台和重力式分選機對晶元測試、分選;項目11主要介紹工業級集成電路測試機對晶元測試。本書適合作為高職高專院校集成電路技術、微電子技術、應用電子技術、電子信息工程等相關專業集成電路測試課程教材。

作者介紹
編者:楊莉//孟奕峰//于曉波|責編:李華宇

目錄
項目一 晶圓扎針測試
  任務一 晶圓扎針測試工藝實施
  任務二 晶圓扎針測試質量檢查及異常處理
項目二 晶圓打點與烘烤
  任務一 晶圓打點工藝實施
  任務二 晶圓烘烤工藝實施
  任務三 晶圓打點與烘烤質量檢查及異常處理
項目三 平移式晶元測試
  任務一 平移式晶元測試工藝實施
  任務二 平移式晶元測試質量檢查及異常處理
項目四 料盤外檢與包裝
  任務一 料盤外檢工藝實施
  任務二 料盤包裝工藝實施
  任務三 料盤外檢與包裝質量檢查及異常處理
項目五 74HC08晶元功能測試
  任務一 74HC08功能測試電路設計與搭建
  任務二 74HC08功能測試程序設計
項目六 74HC138晶元功能測試
  任務一 74HC138功能測試電路設計與搭建
  任務二 74HC138功能測試程序設計與運行
項目七 74HC151 晶元參數測試
  任務一 74HC151測試電路設計與搭建
  任務二 74HC151開短路測試程序設計與運行
  任務三 74HC151功能測試程序設計與運行
項目八 74HC245晶元參數測試
  任務一 74HC245測試電路設計與搭建
  任務二 74HC245工作電流測試程序設計與運行
  任務三 74HC245輸出高低電平測試程序設計與運行
  任務四 74HC245功能測試程序設計與運行
項目九 LM358晶元參數測試
  任務一 LM358測試電路設計與搭建
  任務二 LM358輸出電壓擺幅測試
  任務三 LM358輸出電流測試
項目十 CD4511晶元分選與測試
  任務一 分選機與測試機連接
  任務二 CD4511晶元測試電路設計與搭建
  任務三 CD4511晶元分選測試程序設計與運行
項目十一 基於工業級測試機的24C02晶元測試
  任務一 24C02晶元測試電路設計與搭建
  任務二 24C02晶元測試程序設計與運行
參考文獻

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