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嵌入式處理器調試方法與案例分析

作者：扈嘯//王耀華|責編:王穎娟
出版社：國防科大
ISBN：9787567306387

出版日期：2024/04/01
裝幀：平裝
頁數：214

人民幣：RMB 68 元售價：元

內容大鋼

本書是電腦體系結構領域的一部專著，嵌入式處理器系統調試在硅后測試和嵌入式軟硬體開發周期中都佔有很大比例，因此調試的效率與調試技巧至關重要，通過閱讀此書，讀者能提高學習效率，掌握調試技巧，解決嵌入式處理器調試方面的一些問題。本書面向嵌入式處理器調試方法進行分析總結。對目前嵌入式處理器調試技術領域現狀進行了概述，同時對工程中的通用調試方法，處理器調試的模型、技術工具和方法學進行了論述，提出了一套調試的理論模型和基於影響要素的調試方法論。

作者介紹

扈嘯//王耀華|責編:王穎娟

第1章  嵌入式系統與調試技術概述
  1.1  嵌入式系統概述
  1.2  嵌入式系統的開發調試技術
  1.3  嵌入式多核處理器的開發調試
  1.4  嵌入式系統調試知識庫
第2章  工程中的通用調試方法
  2.1  基礎概念與方法
  2.2  因果方法
  2.3  調試思維過程
  2.4  調試分解方法
  2.5  調試之上——質量問題歸零
第3章  處理器調試技術深入分析
  3.1  技術工具分析
  3.2  模型分析
  3.3  方法學分析
  3.4  因果分析
第4章  嵌入式處理器系統設計與常見故障問題
  4.1  片外硬體電路設計
  4.2  片內部件使用與優化
  4.3  軟體實時處理框架與插樁
  4.4  軟體性能調優
  4.5  嵌入式處理器系統故障樹
第5章  典型案例深入剖析
  5.1  案例1：外部器件適配故障（SRAM）
  5.2  案例2：外部器件適配故障（SDRAM）
  5.3  案例3：匯流排介面故障
  5.4  案例4：外圍電路故障
  5.5  案例5：內核指令故障
  5.6  案例6：片內數據存儲器故障
  5.7  案例7：片內程序存儲器故障
  5.8  案例8：軟體演算法庫故障
  5.9  案例9：系統功能故障
  5.10  案例10：貌似硬體故障的軟體缺陷
第6章  簡要案例分類歸納
  6.1  溝通故障
  6.2  模擬調試
  6.3  電源和上下電相關
  6.4  時鐘相關
  6.5  複位相關
  6.6  存儲器介面
  6.7  低速外設介面
  6.8  自舉相關
  6.9  中斷相關
  6.10  軟體問題
  6.11  SRIO介面
  6.12  PCIe介面
  6.13  DDR介面
  6.14  網路介面
附錄1  嵌入式系統知識庫
附錄2  狀態機切換示例代碼

參考文獻

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