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片上系統測試設計與優化

  • 作者：(瑞典)埃里克·拉森|責編:孫力維//楊凱|譯者:孫仁傑
  • 出版社：科學
  • ISBN：9787030769183
  • 出版日期：2024/01/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：314
人民幣：RMB 88 元      售價：元
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內容大鋼
    本書旨在討論片上系統（SoC）測試的相關問題，包括建模以及片上系統測試解決方案的設計和優化。需要測試的系統越來越複雜，測試數據量不斷增加，如何組織測試，即測試調度變得越來越重要。本書主要站在系統級的角度明模塊化SoC測試領域的諸多問題。
    本書由三部分組成，在概述經典測試方法的基礎上，介紹測試大型、模塊化和異構SoC面臨的挑戰和困難，並詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。
    本書可供電子科學與技術、微電子工程、電腦工程與技術等專業師生閱讀，也可作為軟體測試領域從業者的參考用書。
作者介紹
(瑞典)埃里克·拉森|責編:孫力維//楊凱|譯者:孫仁傑
目錄
第1部分  經典測試方法
  第1章  緒論
  第2章  設計流程
    2.1  引言
    2.2  高層級設計
    2.3  基於內核的設計
    2.4  時鐘
    2.5  優化技術
  第3章  可測性設計
    3.1  引言
    3.2  可測性設計方法
    3.3  混合信號測試
  第4章  邊界掃描
    4.1  引言
    4.2  邊界掃描標準
    4.3  模擬測試匯流排
第2部分  SoC的可測性設計
  第5章  系統建模
    5.1  引言
    5.2  內核建模
    5.3  源端測試建模
    5.4  內核封裝器
    5.5  測試訪問機制
  第6章  測試衝突
    6.1  引言
    6.2  測試儀器的局限性
    6.3  測試衝突
    6.4  討論
  第7章  測試功耗
    7.1  引言
    7.2  功耗
    7.3  系統級功耗建模
    7.4  功耗網的熱點建模
    7.5  內核級功耗建模
    7.6  討論
  第8章  測試訪問機制
    8.1  引言
    8.2  測試訪問機制設計
    8.3  測試時間分析
  第9章  測試調度
    9.1  引言
    9.2  固定測試時間的測試調度
    9.3  不固定（可變）測試時間的測試調度
    9.4  最佳測試時間
    9.5  集成測試調度和TAM設計
    9.6  測試設計流程中的集成內核選擇
    9.7  進一步研究
第3部分  SoC測試應用
  第10章  可重構的功耗敏感性內核封裝器
    10.1  引言

    10.2  背景和相關工作
    10.3  可重構的功耗敏感型內核封裝器
    10.4  最佳測試調度
    10.5  實驗結果
    10.6  結論
  第11章  用於設計和優化SoC測試解決方案的綜合框架
    11.1  引言
    11.2  背景和相關工作
    11.3  系統建模
    11.4  SoC測試相關問題
    11.5  啟髮式演算法
    11.6  模擬退火演算法
    11.7  實驗結果
    11.8  結論
  第12章  基於內核設計的高效測試解決方案
    12.1  引言
    12.2  背景和相關工作
    12.3  測試問題
    12.4  我們的方法
    12.5  實驗結果
    12.6  結論
  第13章  片上系統測試設計流程中的內核選擇
    13.1  引言
    13.2  背景
    13.3  相關工作
    13.4  問題構建
    13.5  測試問題及其建模
    13.6  測試設計演算法
    13.7  實驗結果
    13.8  結論
  第14章  缺陷檢測與測試調度
    14.1  引言
    14.2  相關工作
    14.3  順序測試調度
    14.4  並行測試調度
    14.5  測試調度演算法
    14.6  實驗結果
    14.7  結論
  第15章  ATE內存約束下的測試向量選擇和測試調度集成
    15.1  引言
    15.2  相關工作
    15.3  問題構建
    15.4  測試質量指標
    15.5  測試調度和測試向量選擇
    15.6  實驗結果
    15.7  結論
附錄  設計基準
  附.1  引言
  附.2  輸入文件的格式
  附.3  Kime設計

  附.4  Muresan 10設計
  附.5  Muresan 20設計
  附.6  ASIC Z
  附.7  擴展ASIC Z
  附.8  System L
  附.9  Ericsson（愛立信）設計
  附.10  System S
參考文獻

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