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電能計量設備用晶元質量評估與檢測

  • 作者：編者:趙兵|責編:崔素媛
  • 出版社：中國電力
  • ISBN：9787519874940
  • 出版日期：2023/03/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：106
人民幣：RMB 39 元      售價：元
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內容大鋼
    對電能計量設備而言，其準確性、智能化程度以及安全性都離不開晶元。可以說，晶元是電力設備質量的根本，關係著電網安全可靠和公平公正。本書針對電能計量設備用晶元測試技術，研究晶元的測試及質量評估。
    全書共分5章，內容分別為：概述：計量設備用晶元基礎知識；計量設備用晶元測試技術；晶元可靠性驗證技術；晶元性能綜合評估。附錄給出了晶元相關標準及國內外晶元檢測機構。
    本書內容貼近實際工作，有助於實現晶元國產化及「國網芯」在電網中的規模化應用，適合相關工作及研究人員參考閱讀。
作者介紹
編者:趙兵|責編:崔素媛
目錄
前言
第1章  概述
  1.1  電能計量設備發展
  1.2  電能計量設備用晶元發展趨勢
第2章  計量設備用晶元基礎知識
  2.1  微控制器晶元
    2.1.1  微控制器分類
    2.1.2  主要技術指標
    2.1.3  選型說明
  2.2  計量晶元
    2.2.1  主要技術指標
    2.2.2  選型說明
  2.3  時鐘晶元
    2.3.1  主要技術指標
    2.3.2  選型說明
  2.4  RS-485通信晶元
    2.4.1  內部結構
    2.4.2  主要技術指標
    2.4.3  選型說明
  2.5  隔離晶元
    2.5.1  主要技術指標
    2.5.2  選型說明
  2.6  存儲器晶元
    2.6.1  主要技術指標
    2.6.2  選型說明
    2.6.3  推薦設計
  2.7  DC／DC電源轉換晶元
    2.7.1  工作原理
    2.7.2  主要技術指標
    2.7.3  選型說明
    2.7.4  基本電路結構
  2.8  磁感測晶元
    2.8.1  製備流程
    2.8.2  特性曲線
    2.8.3  主要技術指標
    2.8.4  選型說明
  2.9  液晶驅動晶元
    2.9.1  主要技術指標
    2.9.2  選型說明
    2.9.3  設計電路
  2.10  LDO線性穩壓晶元
    2.10.1  主要技術指標
    2.10.2  選型說明
第3章  計量設備用晶元測試技術
  3.1  電氣性能與功能測試技術
    3.1.1  測試原理
    3.1.2  實例
  3.2  靜電敏感度等級測試
    3.2.1  人體放電模式
    3.2.2  機器放電模式

  3.3  抗閂鎖測試
    3.3.1  分類
    3.3.2  抗閂鎖測試流程概述
    3.3.3  電流測試流程
    3.3.4  過電壓測試流程
  3.4  工藝適應性測試
    3.4.1  可焊性測試
    3.4.2  耐焊接熱測試
    3.4.3  焊球剪切測試
第4章  晶元可靠性驗證技術
  4.1  晶元可靠性實驗項目
    4.1.1  預處理(PC，JESD22-A113)
    4.1.2  穩態濕度壽命試驗(THB，JESD22-A101)
    4.1.3  高加速溫濕度應力試驗(HAST，JESD22-A110)
    4.1.4  無偏置高壓蒸煮試驗(AC，JESD22-A102)
    4.1.5  無偏置高加速應力試驗(UHAST，JESD22-A118)
    4.1.6  溫度循環試驗(TC，JESD22-A104)
    4.1.7  高溫存儲試驗(HTSL，JESD22-A103)
    4.1.8  低溫存儲試驗(LTSL，JESD22-A119)
    4.1.9  高溫老化壽命試驗(HTOL，JESD22-A108)
    4.1.10  循環耐久性數據保持試驗(EDR，JESD22-A117)
  4.2  應用一：基於高溫老化壽命試驗的晶元使用壽命評估
    4.2.1  使用壽命定義
    4.2.2  壽命驗證方案設計
    4.2.3  晶元使用壽命評估實例
    4.2.4  RS-485通信晶元
  4.3  應用二：基於無偏高溫蒸煮試驗的晶元封裝可靠性評估
第5章  晶元性能綜合評估
  5.1  層次分析法基本原理
    5.1.1  構造判斷矩陣
    5.1.2  利用擬優化傳遞矩陣求權數分配
    5.1.3  檢驗
  5.2  計量晶元綜合評估
    5.2.1  計量晶元引腳及功能對比
    5.2.2  計量晶元參數對比
    5.2.3  基於層次分析法的計量晶元評價
  5.3  微控制器綜合評價
    5.3.1  微控制器晶元引腳及功能對比
    5.3.2  微控制器晶元參數對比
    5.3.3  基於層次分析法的微控制器晶元評價
  5.4  存儲晶元綜合評估
    5.4.1  存儲晶元引腳及功能對比
    5.4.2  存儲晶元參數對比
    5.4.3  基於層次分析法的存儲晶元評價
  5.5  RS-485通信晶元綜合評估
    5.5.1  RS-485通信晶元引腳及功能對比
    5.5.2  RS-485通信晶元參數對比
    5.5.3  基於層次分析法的RS-485通信晶元評價
附錄A  晶元相關標準
附錄B  國內外晶元檢測機構

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