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集成電路測試指南

作者：編者:鄔剛//王瑞金//包軍林|責編:趙亮宇
出版社：機械工業
ISBN：9787111683926

出版日期：2021/06/01
裝幀：平裝
頁數：257

人民幣：RMB 99 元售價：元

內容大鋼

本書將半導體集成電路測試原理與實際測試實現過程相結合，內容涵蓋半導體集成電路測試流程，測試原理以及集成運算放大器、電源管理晶元、電可擦除編程只讀存儲器晶元、微控制器晶元、數模轉換晶元等產品的測試實例。本書的特點是理論與實踐相結合，避免了「紙上談兵」。通過學習本書，讀者可以對集成電路測試有一個全面的認識，從而快速進入半導體集成電路測試工程領域。本書的主要讀者是即將從事集成電路測試工作的工程師和大學或職業教育領域相關專業的學生。

作者介紹

編者:鄔剛//王瑞金//包軍林|責編:趙亮宇

序一
序二
序三
前言
第一篇  集成電路測試及測試系統簡介
第1章  集成電路測試簡介
  1.1  集成電路測試的分類
    1.1.1  集成電路測試分類
    1.1.2  CP測試流程及設備
    1.1.3  FT測試流程及設備
  1.2  IC測試項目
  1.3  產品手冊與測試計劃
    1.3.1  產品手冊
    1.3.2  測試計劃
  1.4  測試程序
    1.4.1  測試程序的分類
    1.4.2  量產測試程序的流程
    1.4.3  分類篩選
第2章  集成電路測試系統
  2.1  模擬IC測試系統
  2.2  數字IC測試系統
    2.2.1  數字測試系統的組成
    2.2.2  PMU的原理與參數設置
    2.2.3  引腳電路的組成和原理
  2.3  混合IC測試系統
    2.3.1  模擬子系統與數字子系統
    2.3.2  測試同步
  2.4  ST2500高性能數模混合測試系統
    2.4.1  ST2500硬體資源
    2.4.2  環境要求
  2.5  ST-IDE軟體系統
    2.5.1  ST-IDE軟體界面
    2.5.2  基於ST-IDE的測試程序開發流程
    2.5.3  工廠界面
  2.6  集成電路測試工程師實訓平台
    2.6.1  實驗產品
    2.6.2  教學實驗板的使用
第二篇  集成電路基本測試原理
第3章  直流及參數測試
  3.1  開短路測試
    3.1.1  開短路測試的目的和原理
    3.1.2  開短路測試的方法
    3.1.3  開短路的串列與並行測試
  3.2  漏電流測試
    3.2.1  漏電流測試的目的
    3.2.2  漏電流測試方法
    3.2.3  漏電流測試的串列與並行
  3.3  電源電流測試
    3.3.1  電源電流測試的目的
    3.3.2  IDD測試方法

  3.4  直流偏置與增益測試
    3.4.1  輸入偏置電壓測試
    3.4.2  輸出偏置電壓
    3.4.3  增益測試
  3.5  輸出穩壓測試
  3.6  數字電路輸入電平與輸出電平測試
    3.6.1  輸入電平（VIL/VIH）測試
    3.6.2  輸出高電平（VOH/IOH）測試
    3.6.3  輸出低電平（VOL/IOL）測試
    3.6.4  輸出電平的功能測試方法
……
第三篇  模擬集成電路測試與實踐
第四篇  數字集成電路測試與實踐
第五篇  混合集成電路測試與實踐
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附錄  技術術語中英文對照表

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