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微波毫米波平面電路理論

  • 作者:童玲//田雨//高博//年夫順
  • 出版社:科學
  • ISBN:9787030503725
  • 出版日期:2016/10/01
  • 裝幀:平裝
  • 頁數:188
人民幣:RMB 85 元      售價:
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內容大鋼
    《微波毫米波平面電路理論》以微波毫米波平面電路設計分析理論和測試技術為主要內容。概述了微波毫米波非理想平面電路設計的主要分析方法。針對微波毫米波平面電路設計中的典型非理想因素,詳細介紹了屏蔽電路、有限導帶厚度、有耗介質、有限接地及多層平面電路垂直互聯等工程實際電路的分析設計基礎理論和方法,以及微波、毫米波平面電路和介質材料測試技術。
    本書可作為從事微波毫米波平面電路分析設計的研究人員和工程技術人員的工作參考用書,也可供高等院校電子科學與技術、電磁場與電磁波、電路與系統、測試技術等專業的教師和研究生參考。

作者介紹
童玲//田雨//高博//年夫順

目錄
前言
第1章  緒論
  1.1  微波毫米波平面電路
  1.2  微波毫米波平面電路類型
第2章  微波平面電路數值分析方法
  2.1  直線法
  2.2  譜域法
  2.3  矩量法
  2.4  時域有限差分
  2.5  有限元法
  參考文獻
第3章  非理想微波平面傳輸線
  3.1  非理想微波平面傳輸線概述
  3.2  有限空間微波平面傳輸線
    3.2.1  有限空間微波平面傳輸線概述
    3.2.2  有限空間微波平面傳輸線的直線法分析
    3.2.3  有限空間對微波平面傳輸線電磁特性的影響
  3.3  有限接地面積微波平面傳輸線
    3.3.1  有限接地面積微波平面傳輸線概述
    3.3.2  有限接地面積微波平面傳輸線的直線分析法
    3.3.3  有限接地面積對微波平面傳輸線電磁特性的影響
  3.4  有限導帶厚度微波平面傳輸線
    3.4.1  有限導帶厚度微波平面傳輸線概述
    3.4.2  有限導帶厚度微波平面傳輸線分析
    3.4.3  導帶厚度對微波平面傳輸線的影響
  3.5  有限介質基板寬度微波平面傳輸線
    3.5.1  有限介質基板寬度微波平面傳輸線概述
    3.5.2  介質基板寬度對微波平面傳輸線電磁特性的影響
  3.6  多層介質、多層金屬微波平面傳輸線
    3.6.1  多層介質、多層金屬微波平面傳輸線概述
    3.6.2  多層介質對微波平面傳輸線電磁特性的影響
    3.6.3  多層介質、多層金屬對微波平面傳輸線電磁特性的影響
  參考文獻
第4章  平面電路層間互連
  4.1  平面電路層間信號傳輸
  4.2  垂直互連結構分析方法
    4.2.1  過孔外部結構研究方法
    4.2.2  過孔內部結構分析方法
    4.2.3  矩陣束法
  4.3  垂直互連結構電磁特性
    4.3.1  過孔外部結構分析
    4.3.2  RWG基函數分析方法
    4.3.3  過孔內部結構分析
    4.3.4  多層電路垂直過孔電磁特性分析
    4.3.5  多層結構模擬計算
  4.4  層間互連結構優化
    4.4.1  短路孔對過孔信號傳輸的影響
    4.4.2  接地孔對於信號孔間串擾的影響
    4.4.3  過孔陣列中過孔傳輸特性的分析
  參考文獻

第5章  微波平面電路介電常數測量
  5.1  微波介質材料的介電特性
    5.1.1  電介質的介電常數及特點
    5.1.2  微波平面電路複合介質基板的特點及非理想因素
  5.2  微波介質材料介電常數的測量方法
    5.2.1  平行板法
    5.2.2  傳輸線法
    5.2.3  同軸探針法
    5.2.4  諧振法
    5.2.5    自由空間法
    5.2.6  帶狀線諧振器法
    5.2.7  微帶線差分相位長度法
    5.2.8  全片諧振測試法
    5.2.9  分離介質諧振器法
    5.2.10  邊緣耦合微帶線諧振結構測量方法
    5.2.11  材料介電常數測量方法總結
  5.3  微波介質材料介電常數測量方法研究
    5.3.1  傳輸線法測量粉末材料介電常數的測量系統設計
    5.3.2  傳輸線法測量粉末材料介電常數的校準方法
    5.3.3  粉末材料介電常數反演
    5.3.4  粉末材料樣品介電常數測量系統
    5.3.5  粉末樣品材料介電常數測量系統驗證及樣品實驗結果
  參考文獻
第6章  平面電路測試及去嵌入技術
  6.1  散射參數及其測試
  6.2  微波平面電路測試系統
    6.2.1  時域測試
    6.2.2  頻域測試系統誤差模型
    6.2.3  平面電路測試去嵌入技術
  參考文獻

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