幫助中心 | 我的帳號 | 關於我們
進階搜尋
car

同類熱銷排行榜

最近瀏覽的商品

嵌入式系統中的輻射效應/國際電氣工程先進技術譯叢

  • 作者：(法)拉烏爾·委拉茲克//帕斯卡·弗埃雷特//(巴西)里卡多·賴斯|譯者:黃雲//張戰剛//雷志鋒//師謙//何玉娟等
  • 出版社：機械工業
  • ISBN：9787111582861
  • 出版日期：2018/01/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：234
人民幣：RMB 79 元      售價：元
放入購物車
加入收藏夾
內容大鋼
    由拉烏爾·委拉茲克、帕斯卡·弗埃雷特、(巴西)里卡多·賴斯等著的《嵌入式系統中的輻射效應/國際電氣工程先進技術譯叢》由法國TIMA實驗室的RaoulVelazco、法國波爾多第壹大學的PascalFouillat和巴西南里奧格蘭德聯邦大學的RicardoReis共同編著，從環境、效應、測試、評價、加固和預計等方面全面詳細介紹了嵌入式系統中的輻射效應，主要內容包括空間輻射環境、微電子器件中的輻射效應、電子器件的在軌飛行異常、多層級故障效應評估、基於脈衝激光的單粒子效應測試和分析技術、電路的加固方法及自動化工具、輻射效應試驗測試設備以及數字架構的錯誤率預計方法等。本書內容全面、豐富且針對性強，覆蓋了電子器件及系統輻射效應的方方面面。區別于其他電子系統輻射效應論著，本書從工程化的角度論述空間輻射效應評估、地面模擬、軟錯誤率預計等技術以及國際上目前先進的研究方法論，同時兼具基礎性和理論性。本書適合專業從事電子器件及系統輻射效應研究的科研人員和工程化應用的技術人員閱讀和借鑒；同時，也可為該領域的「新人」（如研究生）提供必備的基礎知識。
作者介紹
(法)拉烏爾·委拉茲克//帕斯卡·弗埃雷特//(巴西)里卡多·賴斯|譯者:黃雲//張戰剛//雷志鋒//師謙//何玉娟等
目錄
譯者序
原書前言
第1章  空間輻射環境
  1.1  空間輻射效應
    1.1.1  空間輻射環境：范艾倫帶、太陽耀斑、太陽風和宇宙射線
    1.1.2  劑量效應：產生原因、對電子器件的影響、輻射強度
    1.1.3  位移效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度
    1.1.4  重離子效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度
    1.1.5  質子效應：產生原因（直接或間接）、對電子器件的效應、輻射強度
  1.2  其他效應
  1.2.1  原子氧：來源和效應
    1.2.2  太陽紫外線：來源和效應
    1.2.3  微流星體：來源和效應
    1.2.4  軌道碎片：來源和效應
  參考文獻
第2章  微電子器件的輻射效應
  2.1  引言  
  2.1.1  長期效應
    2.1.2  瞬態效應
  2.2  mos器件  
  2.2.1  閾值電壓漂移
    2.2.2  退化效應
    2.2.3  亞閾斜率
    2.2.4  MOSFET的泄漏電流
  2.3  雙極型器件  
    2.3.1  簡介  
    2.3.2  電流成分  
    2.3.3  射-基間耗盡區的複合效應
    2.3.4  中立基區的複合效應
    2.3.5  電流增益
  2.4  單粒子效應  
    2.4.1  引言
    2.4.2  模擬方法
    2.4.3  器件級效應
  2.5  概述
  致謝
  參考文獻
第3章  電子器件的飛行異常
  3.1  引言
  3.2  輻射效應綜述
    3.2.1  空間環境
    3.2.2  元器件中的主要效應類型
  3.3  飛行異常和空間環境
    3.3.1  數據來源
    3.3.2  統計對比
    3.3.3  空間天氣事件效應的一個重要例子
  3.4  累積效應
    3.4.1  人工輻射帶
    3.4.3  木星上的伽利略探測器
    3.4.4  超敏感系統

  3.5  單粒子效應
    3.5.1  銀河宇宙射線
    3.5.2  太陽粒子(質子，離子
    3.5.3  俘獲帶質子
  3.6  感測器的特有事件
    3.6.1  瞬態信號
    3.6.2  永久或半永久損傷
  3.7  專用儀器和試驗
    3.7.1  空間環境監視器
    3.7.2  技術試驗
  參考文獻
第4章  多層級故障效應評估
  4.1  前言
  4.2  FARM模型
    4.2.1  故障注入的要求
    4.2.2  侵擾性
    4.2.3  速度
    4.2.4  單次故障注入試驗的加速
    4.2.5  故障清單的產生
    4.2.6  成本
  4.3  假設
  4.4  晶體管級的故障注入
    4.4.1  生軟錯誤的粒子
    ……
第5章  模擬和混合信號電路的輻射效應
第6章  單粒子翻轉的脈衝激光測試技術基礎
第7章  asic電路的設計加固方法
第8章  可編程電路的錯誤容差
第9章  用於加固設計的自動化工具
第10章  see和總劑量試驗測試設備
第11章  數字架構的錯誤率預計：測試方法學和工具
第12章  基於seem軟體的激光set測試和分析

  • 商品搜索：
  • | 高級搜索
首頁│ 新手上路│ 客服中心│ 關於我們│ 聯絡我們│ Top↑│
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司 臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話：02-2381-2033 02-2381-1863　時間：週一-週五 10:00-17:00
　服務信箱：bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證：浙B2-20060032