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  • CMOS集成电路闩锁效应/IC工程师精英课堂

  • 所属分类：电子电脑>>电工无线电自动化>>无线电电子.电讯     作者：编者:温德通|责编:吕潇     出版社：机械工业
  • 丛书项：IC工程师精英课堂
  •     本书通过具体案例和大量彩色图片，对CMOS集成 电路设计与制造中存在的闩锁效应(Latch-up)问题进 行了详细介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效 应的基础上，先后对闩锁效应的原理、触发方式、测 试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了详细 讲解，随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用 ，为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效 应测试和改善方法。 本书面向从事微电子、半导体与集成电路行业的 朋友，旨在给业内人士提供简单易懂并且与实际应用 相结合的图书，同时也适合相关专业的本科生和研究 生阅读。
  • 人民币：RMB 99.00 元     售价：NT$ 396.00 元
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