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材料分析方法與實踐(教育部高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材)

  • 作者：編者:鄭士建|責編:陶艷玲
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122508522
  • 出版日期：2026/10/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：419
人民幣：RMB 79 元      售價：元
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內容大鋼
    《材料分析方法與實踐》是教育部高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材。書中系統介紹了X射線衍射、電子顯微分析、譜儀與譜學三大材料研究方法，具體涵蓋X射線衍射原理、測量誤差、物相分析、殘餘應力的測量、織構分析、搖擺曲線和φ掃、晶粒尺寸與薄膜厚度測量、Rietveld擬合、缺陷分析、結晶度的計算和原位X射線衍射及倒易空間映射，透射電子顯微基本原理、顯微鏡結構與操作、電子衍射、顯微圖像分析，掃描透射電子顯微學及其應用、透射電鏡的三維成像與原位觀察、樣品製備，掃描電子顯微鏡結構與原理、電子探針顯微分析，X射線光電子能譜、紅外光譜、拉曼光譜分析等內容。書中引入了大量最新研究成果的案例。
    本書內容特點在於綜合性強，覆蓋了材料科學研究中應用最為廣泛的各類分析技術：注重實踐，結合基本原理、具體操作與實際案例進行講解：前沿性突出，納入了球差校正、環形明場、差分相位成像、三維成像、原位測試等世界先進技術：側重分析過程的講解與創新應用，有助於培養學生的實踐與創新能力。
    本書主要供材料類及相關專業的研究生教學使用，也可作為相應層次科研工作者自學與參考的讀物。
作者介紹
編者:鄭士建|責編:陶艷玲
目錄
第1篇  X射線衍射
  第1章  緒論
    1.1  X射線的發現與發展
    1.2  X射線的應用
    思考題
    參考文獻
  第2章  晶體學基礎與X射線衍射原理
    2.1  晶體學基礎
    2.2  X射線衍射儀原理
    2.3  X射線光源
    2.4  測角儀和狹縫系統
    2.5  探測器及掃描模式
    2.6  單色器
    2.7  試樣的製備方法
    2.8  X射線的衍射強度
    思考題
    參考文獻
  第3章  X射線衍射測量誤差
    3.1  測量不確定度與測量誤差
    3.2  X射線衍射儀的誤差
    思考題
    參考文獻
  第4章  X射線衍射物相分析
    4.1  定性分析
    4.2  定量分析
    思考題
    參考文獻
  第5章  殘餘應力的測量
    5.1  應力測量的基本原理
    5.2  應力測量的方法
    思考題
    參考文獻
  第6章  織構分析
    6.1  織構的概念
    6.2  極圖
    6.3  反極圖
    6.4  取向分佈函數
    思考題
    參考文獻
  第7章  搖擺曲線和φ掃
    7.1  搖擺曲線
    7.2  Phi(φ)掃
    7.3  倒易空間映射
    思考題
    參考文獻
  第8章  晶粒尺寸與薄膜厚度的測量
    8.1  晶粒尺寸的測量
    8.2  薄膜厚度的測量
    思考題
    參考文獻

  第9章  Rietveld擬合
    9.1  Rietveld原理
    9.2  Rietveld擬合步驟
    思考題
    參考文獻
  第10章  缺陷分析
    10.1  位錯的分析
    10.2  層錯的分析
    思考題
    參考文獻
  第11章  結晶度的計算
    11.1  絕對結晶度的測量
    11.2  相對結晶度的測量
    思考題
    參考文獻
  第12章  原位X射線衍射
    12.1  原位變溫XRD
    12.2  原位電池XRD
    12.3  原位力學XRD
    12.4  原位化學XRD
    思考題
    參考文獻
第2篇  電子顯微分析
  第13章  電子光學與電磁透鏡
    13.1  電子光學
    13.2  電磁透鏡
    13.3  電磁透鏡的像差和理論分辨本領
    思考題
    參考文獻
  第14章  透射電子顯微鏡的基本結構和操作
    14.1  透射電子顯微鏡結構簡述
    14.2  電子光學系統
    14.3  電源與控制系統
    14.4  真空系統
    14.5  透射電子顯微鏡的基本操作
    思考題
    參考文獻
  第15章  透射電子顯微鏡的電子衍射
    15.1  概述
    15.2  倒易點陣與埃瓦爾德球圖解法
    15.3  點陣方向與點陣平面的幾何關係
    15.4  倒易矢量與倒易點陣擴展
    15.5  電子衍射實驗方法
    15.6  電子衍射花樣標定
    15.7  複雜電子衍射花樣的標定
    15.8  納米束衍射和會聚束衍射
    思考題
    參考文獻
  第16章  透射電子顯微圖像分析
    16.1  質厚襯度

    16.2  衍射襯度
    16.3  相位襯度
    思考題
    參考文獻
  第17章  掃描透射電子顯微學及其應用
    17.1  掃描透射電子顯微學基本原理
    17.2  掃描透射電子顯微像的全元素表徵
    17.3  像差校正掃描透射電子顯微學及其應用
    17.4  差分相位襯度成像
    思考題
    參考文獻
  第18章  透射電鏡的三維成像技術
    18.1  三維成像簡介
    18.2  透射電鏡三維成像基本模式
    18.3  透射電鏡三維成像流程
    18.4  透射電鏡三維重構技術進展
    18.5  透射電鏡三維重構技術的應用實例
    思考題
    參考文獻
  第19章  原位透射電子顯微學
    19.1  原位透射電子顯微學基本原理
    19.2  原位透射電子顯微學技術的優勢與限制
    19.3  原位電子束輻照
    19.4  原位光學輻照
    19.5  原位力學
    19.6  原位熱學
    19.7  原位電學
    19.8  原位磁學
    19.9  原位氣相
    19.10  原位液相
    19.11  原位TEM顯微學的發展趨勢及領域拓展
    思考題
    參考文獻
  第20章  透射電子顯微鏡的樣品製備
    20.1  透射電鏡對樣品的要求
    20.2  粉末樣品製備
    20.3  塊體樣品的製備
    20.4  薄膜樣品的製備
    20.5  生物樣品的製備
    20.6  高分子樣品的製備
    思考題
    參考文獻
  第21章  掃描電子顯微鏡
    21.1  掃描電子顯微鏡概述
    21.2  聚焦離子束雙束掃描電鏡
    思考題
  第22章  電子探針顯微分析
    22.1  電子探針儀的結構與工作原理
    22.2  電子探針儀的分析方法
    22.3  電子探針的特殊應用舉例

    思考題
    參考文獻
第3篇  譜儀與譜學
  第23章  X射線光電子能譜
    23.1  X射線光電子能譜基礎
    23.2  XPS儀器組成
    23.3  近常壓X射線光電子能譜
    23.4  XPS譜的認識
    23.5  傳統XPS樣品製備
    23.6  XPS的主要功能
    23.7  XPS數據處理
    23.8  XPS案例分析和應用
    思考題
    參考文獻
  第24章  紅外光譜測試與分析
    24.1  紅外光譜概述
    24.2  紅外光譜測試原理
    24.3  紅外光譜樣品製備
    24.4  紅外光譜數據處理
    24.5  紅外光譜的案例分析和應用
    24.6  紅外光譜展望
    思考題
    參考文獻
  第25章  拉曼光譜
    25.1  拉曼光譜概述
    25.2  拉曼光譜測試原理
    25.3  拉曼光譜樣品製備和聚焦
    25.4  拉曼光譜和紅外光譜比較
    25.5  拉曼光譜的案例分析和應用
    25.6  拉曼光譜展望
    思考題
    參考文獻
附錄（二維碼）
  附錄1  立方晶系電子衍射花樣特徵平行四邊形表
  附錄2  立方晶系晶面夾角
  附錄3  常見晶體標準電子衍射花樣

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