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材料測試技術與分析方法(石油和化工行業十四五規劃教材卓越工程師教育培養計劃系列教材)

  • 作者：編者:陳?//周偉//朱海|責編:陶艷玲
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122504296
  • 出版日期：2026/08/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：250
人民幣：RMB 49 元      售價：元
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內容大鋼
    本書圍繞本科應用型人才培養的教學需求編寫，內容系統實用、表述簡明清晰，注重理論與實踐的結合。全書以材料分析測試能力的培養為核心，重點介紹了X射線衍射分析、掃描電子顯微鏡分析、電子探針顯微分析、電子背散射衍射分析、透射電子顯微鏡分析、X射線光電子能譜、常用光譜分析方法、原子力顯微鏡分析以及材料物理性能測試等多種現代分析方法的原理、實驗技術及其在物相、結構、形貌和成分分析中的具體應用。
    本書在湖南省材料類教學指導委員會的指導下，聯合省內15所材料類院校長期從事該課程教學的老師共同討論、共同編寫，並邀請企業專家深度參與內容建設，充分體現了產教融合特色，內容貼合產業實際需求。不僅適用於普通高等院校材料類和機械類本科生作為教材使用，也可作為研究生相關專業課程的教學參考用書，還可作為高職高專相關課程的教學參考用書，同時可供從事材料研發、質量檢測與工程技術的人員閱讀和參考。
作者介紹
編者:陳?//周偉//朱海|責編:陶艷玲
目錄
第1章  X射線衍射分析原理、方法及應用
  1.1  X射線物理學基礎
    1.1.1  X射線的本質
    1.1.2  X射線的產生及X射線譜
    1.1.3  X射線與物質的相互作用
  1.2  晶體結構
    1.2.1  晶體結構的基本特點
    1.2.2  點陣與點陣結構
    1.2.3  晶體的宏觀對稱性
    1.2.4  倒易點陣
    1.2.5  晶帶及晶帶定理
  1.3  X射線衍射基礎
    1.3.1  衍射方向
    1.3.2  衍射強度
  1.4  X射線衍射儀
    1.4.1  X射線發生器
    1.4.2  測角儀
    1.4.3  X射線探測儀
    1.4.4  測量方式和實驗參數的選擇
  1.5  粉末衍射方法的應用
    1.5.1  物相分析
    1.5.2  晶胞參數的精確測定及其應用
    1.5.3  薄膜分析中常用的X射線方法
  1.6  XRD圖譜分析的實例與方法
    1.6.1  MDI Jade軟體功能介紹
    1.6.2  Jade的用戶界面
    1.6.3  查看PDF卡片的操作方法
    1.6.4  物相定性分析
    1.6.5  物相定量分析
  思考題
  參考文獻
第2章  掃描電子顯微鏡分析
  2.1  掃描電子顯微鏡簡介
  2.2  電子束與樣品相互作用產生的信號
    2.2.1  二次電子
    2.2.2  背散射電子
    2.2.3  特徵X射線
    2.2.4  俄歇電子
  2.3  掃描電子顯微鏡的工作原理
  2.4  掃描電子顯微鏡的基本結構
    2.4.1  電子光學系統
    2.4.2  信號收集處理、圖像顯示和記錄系統
    2.4.3  真空系統與電源系統
  2.5  掃描電子顯微鏡的性能
    2.5.1  放大倍數
    2.5.2  解析度
    2.5.3  景深
  2.6  掃描電子顯微鏡襯度原理
    2.6.1  表面形貌襯度
    2.6.2  成分襯度

    2.6.3  電壓襯度
    2.6.4  磁襯度
  2.7  掃描電子顯微鏡樣品的製備
  2.8  樣品製備及測試實例
  2.9  常見典型斷口
    2.9.1  韌窩斷口
    2.9.2  解理斷口
    2.9.3  准解理斷口
    2.9.4  脆性沿晶斷口
    2.9.5  疲勞斷口
  思考題
  參考文獻
第3章  電子探針顯微分析與電子背散射衍射分析
  3.1  電子探針顯微分析
    3.1.1  電子探針的發展
    3.1.2  電子探針的基本原理及構造
    3.1.3  電子探針分析方法
    3.1.4  樣品製備要求
    3.1.5  電子探針的應用
  3.2  電子背散射衍射及應用
    3.2.1  EBSD的結構及基本原理
    3.2.2  EBSD的解析度
    3.2.3  EBSD樣品的製備
    3.2.4  EBSD的應用
  思考題
  參考文獻
第4章  透射電子顯微鏡分析
  4.1  透射電子顯微鏡簡介
    4.1.1  透射電子顯微分析發展簡史
    4.1.2  透射電子顯微鏡的解析度
  4.2  電磁透鏡的像差
    4.2.1  幾何像差
    4.2.2  色差
  4.3  透射電子顯微鏡的結構與成像原理
    4.3.1  電子光學系統
    4.3.2  輔助系統
    4.3.3  透射電子顯微鏡成像原理
  4.4  電子衍射
    4.4.1  電子衍射基本原理
    4.4.2  選區電子衍射
    4.4.3  磁轉角
    4.4.4  單晶體電子衍射花樣標定
    4.4.5  多晶體電子衍射花樣標定
  4.5  透射電子顯微鏡襯度原理
    4.5.1  質厚襯度
    4.5.2  衍射襯度
    4.5.3  相位襯度
  4.6  掃描透射電子顯微鏡
    4.6.1  掃描透射電子顯微鏡的工作原理
    4.6.2  掃描透射電子顯微鏡的特點

    4.6.3  掃描透射電子顯微鏡的應用
  4.7  透射電子顯微鏡樣品製備
    4.7.1  表面復型技術
    4.7.2  薄膜製備技術
    4.7.3  粉末製備技術
    4.7.4  透射電子顯微鏡樣品製備的其他方法
  4.8  透射電子顯微鏡的應用
    4.8.1  形貌分析
    4.8.2  晶體缺陷分析
    4.8.3  晶體結構分析
  4.9  透射電子顯微鏡的基本操作
  思考題
  參考文獻
第5章  X射線光電子能譜與俄歇電子能譜
  5.1  概述
  5.2  XPS的基本原理
    5.2.1  光電子的產生
    5.2.2  光電子能譜的測量原理
  5.3  X射線光電子能譜實驗技術
    5.3.1  X射線光電子能譜儀
    5.3.2  樣品的製備與測定
    5.3.3  識別譜圖軟體解譜方法
  5.4  X射線光電子能譜的應用
    5.4.1  元素及其化學態的定性分析
    5.4.2  定量分析
    5.4.3  化學結構分析
  5.5  俄歇電子能譜分析
    5.5.1  俄歇電子能譜的基本原理
    5.5.2  俄歇電子能譜分析技術
    5.5.3  俄歇電子能譜分析的應用
  思考題
  參考文獻
第6章  常用光譜分析方法
  6.1  概述
  6.2  紫外-可見光譜
    6.2.1  簡介
    6.2.2  基本原理和系統組成
  6.3  紅外吸收光譜
    6.3.1  簡介
    6.3.2  基本原理和系統組成
    6.3.3  樣品製備
    6.3.4  應用舉例
  6.4  拉曼光譜
    6.4.1  簡介
    6.4.2  激光拉曼光譜與紅外光譜比較
    6.4.3  試驗設備和實驗技術
  6.5  熒光光譜
    6.5.1  簡介
    6.5.2  基本原理和系統組成
    6.5.3  應用舉例

  思考題
  參考文獻
第7章  原子力顯微鏡分析
  7.1  原子力顯微鏡的基本知識
    7.1.1  原子力顯微技術的發展
    7.1.2  原子力顯微鏡工作原理
    7.1.3  原子力顯微鏡的功能技術
  7.2  原子力顯微鏡的應用
    7.2.1  AFM在材料科學方面中的應用
    7.2.2  AFM在其他方面中的應用
  7.3  原子力顯微鏡的表面分析案例
  7.4  原子力顯微鏡與其他顯微分析技術
    7.4.1  原子力顯微鏡與其他顯微分析技術的比較
    7.4.2  原子力顯微鏡與掃描電子顯微鏡的具體比較
  思考題
  參考文獻
第8章  材料物理性能分析技術
  8.1  熱學性能分析技術
    8.1.1  簡介
    8.1.2  熱重分析法
    8.1.3  差熱分析法
    8.1.4  差示掃描量熱法
    8.1.5  熱膨脹分析法
    8.1.6  熱學性能分析技術的應用
  8.2  力學性能分析技術
    8.2.1  簡介
    8.2.2  拉伸測試
    8.2.3  硬度測試
    8.2.4  力學性能分析技術的應用
  8.3  電學性能分析技術
    8.3.1  簡介
    8.3.2  直流四探針法
    8.3.3  介電性能測試
    8.3.4  電化學阻抗譜技術
    8.3.5  電學性能分析技術的應用
  8.4  磁學性能分析技術
    8.4.1  簡介
    8.4.2  振動樣品磁強計法
    8.4.3  超導量子干涉儀法
    8.4.4  電磁屏蔽性能測試
    8.4.5  磁學性能分析技術的應用
  思考題
  參考文獻
附錄
  附錄1  原子散射因子f
  附錄2  各種點陣的結構因子F2hkl
  附錄3  粉末法的多重性因子Phkl
  附錄4  質量吸收係數μ/ρ
  附錄5  常見晶體的標準電子衍射花樣
  附錄6  立方晶體和六方晶體可能出現的反射

  附錄7  某些物質的特徵溫度θ

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