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光學測試技術(高等學校新工科電子信息類專業系列教材)

  • 作者：編者:翟玉生//張志峰|責編:謝文濤
  • 出版社：武漢大學
  • ISBN：9787307221314
  • 出版日期：2026/07/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：351
人民幣：RMB 59 元      售價：元
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內容大鋼
    本書以光學測試技術為核心，系統闡述了其基本理論、測量原理、方法及典型應用。全書共分11章，主要內容包括：光學測試涉及的基本概念和基礎知識、常用光源、光電探測器件、常用調製方法與光電處理電路、干涉測量、衍射測量、光譜測量、光纖感測技術及太赫茲波檢測技術等。本書可作為高等院校電子科學與技術、光信息科學與技術、光學工程、儀器儀錶、測控技術與儀器等專業本科生和研究生的教材，也可供從事相關專業的科研技術人員學習參考。
作者介紹
編者:翟玉生//張志峰|責編:謝文濤
目錄
第1章 緒論
  1.1 測量的基本概念
  1.2 光電檢測系統構成及特點
    1.2.1 光電檢測系統的構成
    1.2.2 光電檢測系統的特點
  1.3 光學測量及光電檢測技術的應用和發展
    1.3.1 光學測量及光電檢測技術的應用
    1.3.2 光學測量與光電檢測技術的發展現狀及趨勢
第2章 光學測量常用光源
  2.1 光源選擇的基本要求和光源的分類
    2.1.1 光源選擇的基本要求
    2.1.2 光源的種類
  2.2 熱光源
    2.2.1 黑體
    2.2.2 白熾燈
    2.2.3 其他熱光源
  2.3 氣體放電光源
    2.3.1 開放式氣體放電光源
    2.3.2 氣體燈
  2.4 固體發光光源
    2.4.1 電致發光屏
    2.4.2 發光二極體
  2.5 激光光源
    2.5.1 激光概述
    2.5.2 氣體激光器
    2.5.3 固體激光器
    2.5.4 可調諧染料激光器
    2.5.5 半導體激光器
  2.6 新型電調製紅外光源
第3章 光學測量中常用的光電探測器件
  3.1 光電探測器件的分類
    3.1.1 光子效應
    3.1.2 光熱效應
  3.2 光電探測器的主要特性參數
  3.3 常用的光電探測器
    3.3.1 光電倍增管
    3.3.2 光電導器件
    3.3.3 光伏探測器
    3.3.4 CCD感測器
    3.3.5 熱電探測器
第4章 光學測量常用的調製方法與光電處理電路
  4.1 光學測量常用的調製方法
    4.1.1 機械調製法
    4.1.2 基於光學特性實現的光調製技術
  4.2 光學測量及光電檢測系統中常用的光電處理電路
    4.2.1 前置放大器
    4.2.2 選頻放大器
    4.2.3 相敏檢波器
    4.2.4 相位檢測器
    4.2.5 鑒頻器

    4.2.6 限幅器
    4.2.7 積分微分運算器
    4.2.8 鎖相環及鎖相放大器
第5章 干涉測量技術及應用
  5.1 光干涉的基礎知識
    5.1.1 光的干涉條件
    5.1.2 干涉條紋的形狀
    5.1.3 干涉條紋的對比度
    5.1.4 產生干涉的途徑
  5.2 傳統干涉光學測量技術
    5.2.1 光學系統基礎知識
    5.2.2 泰曼-格林干涉儀
    5.2.3 移相干涉儀
    5.2.4 共路干涉儀
  5.3 激光干涉儀
    5.3.1 邁克爾遜干涉儀
    5.3.2 實用激光干涉儀主要構件的作用原理
  5.4 白光干涉儀
  5.5 絕對長度干涉計量
    5.5.1 柯氏絕對光波干涉儀
    5.5.2 激光無導軌測量
    5.5.3 激光跟蹤測量
  5.6 外差式激光干涉儀
    5.6.1 光學外差檢測原理
    5.6.2 雙頻激光干涉儀
    5.6.3 激光測振儀
    5.6.4 多普勒效應與多普勒頻移
    5.6.5 激光多普勒測速技術
  5.7 半導體激光干涉儀
    5.7.1 線性調頻半導體激光干涉儀
    5.7.2 線性調頻半導體激光測距
    5.7.3 自混頻現象及其應用
  5.8 激光光柵干涉儀
    5.8.1 激光光柵偏振干涉儀
    5.8.2 激光光柵外差干涉儀
    5.8.3 線性調頻半導體激光光柵干涉儀
第6章 激光全息與散斑測量技術
  6.1 全息術及其基本原理
    6.1.1 全息基本原理
    6.1.2 全息圖的類型
    6.1.3 全息基本設備
  6.2 激光全息干涉測量技術
    6.2.1 全息干涉測量方法
    6.2.2 激光全息干涉測量技術的應用
  6.3 激光散斑干涉測量
    6.3.1 散斑的概念
    6.3.2 散斑照相測量原理及應用
    6.3.3 散斑干涉測量原理及應用
    6.3.4 電子散斑干涉測量(ESPI)
第7章 光學衍射及莫爾條紋測量技術

  7.1 激光衍射測量基本原理
    7.1.1 單縫衍射測量
    7.1.2 光柵衍射測量
  7.2 莫爾條紋測試技術
    7.2.1 莫爾條紋的形成原理
    7.2.2 莫爾條紋的基本性質
    7.2.3 莫爾條紋測試技術
第8章 基於其他光學特性的測量技術
  8.1 激光准直法在多自由度同時測量方面的應用
    8.1.1 概述
    8.1.2 直線度測量
    8.1.3 偏擺角和俯仰角的測量
    8.1.4 滾轉角測量
    8.1.5 多自由度同時測量
    8.1.6 影響激光准直測量的因素和提高精度的途徑
  8.2 偏振測量法在滾轉角測量中的應用
  8.3 激光測距技術
    8.3.1 脈衝法激光測距
    8.3.2 相位法激光測距
  8.4 物體三維形狀測量技術
    8.4.1 接觸式測量
    8.4.2 非接觸測量法
  8.5 激光三角法測量物體三維形狀
    8.5.1 激光三角法的測量原理
    8.5.2 激光片光三維形狀測量技術
    8.5.3 激光同步掃描三維形狀測量技術
  8.6 基於光柵投射的三維形狀測量技術
    8.6.1 光柵投射法測量三維形狀的基本原理
    8.6.2 相位測量技術
第9章 光譜分析測試技術
  9.1 概述
  9.2 光譜和光譜分析
    9.2.1 光譜的分類
    9.2.2 光譜分析方法
  9.3 光譜分析儀器
    9.3.1 光譜分析儀光源
    9.3.2 光譜分析儀單色器
    9.3.3 光譜分析儀檢測器
  9.4 紅外光譜分析
    9.4.1 紅外光譜的基本原理
    9.4.2 紅外光譜儀
  9.5 拉曼光譜分析
    9.5.1 拉曼光譜的基本原理
    9.5.2 拉曼光譜儀
  9.6 法布里-珀羅干涉儀
    9.6.1 法布里-珀羅(F-P)干涉儀的原理
    9.6.2 法布里-珀羅(F-P)干涉儀的光譜特性
    9.6.3 法布里-珀羅(F-P)干涉光譜儀
第10章 光纖感測技術
  10.1 光傳輸的基本理論

    10.1.1 反射和折射
    10.1.2 全反射
    10.1.3 光的干涉
    10.1.4 光波導
  10.2 光纖感測技術
    10.2.1 強度調製型光纖感測器
    10.2.2 相位調製型光纖感測器
    10.2.3 偏振調製型光纖感測器
    10.2.4 波長調製型光纖感測器
    10.2.5 光纖分散式感測器
第11章 太赫茲波檢測技術
  11.1 太赫茲波段
  11.2 太赫茲波的產生和探測
    11.2.1 光電導天線
    11.2.2 光整流和光電探測
    11.2.3 電光檢測
    11.2.4 頻率下轉換的太赫茲波發射
    11.2.5 其他太赫茲波發射器
    11.2.6 太赫茲波的探測
  11.3 太赫茲時域光譜
    11.3.1 太赫茲時域光譜技術
    11.3.2 太赫茲時域光譜的信噪比
  11.4 太赫茲波成像
    11.4.1 空間掃描形式的太赫茲波成像技術
    11.4.2 二維太赫茲波成像技術
    11.4.3 飛行時間成像
    11.4.4 合成孔徑成像和干涉成像
  11.5 與太赫茲光譜和成像相關的技術
    11.5.1 太赫茲波收發器
    11.5.2 圓漸開線型光學延遲器
    11.5.3 無移動元件的光學延遲器
    11.5.4 太赫茲波時域光譜與傅里葉變換紅外光譜的比較
附錄
參考文獻

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