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材料表面現代分析方法(研究生規劃教材)

  • 作者：編者:賈賢|責編:王婧//楊菁
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122068330
  • 出版日期：2009/12/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：226
人民幣：RMB 45 元      售價：元
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內容大鋼
    本書首先在緒論部分介紹了材料表面及其特性以及材料表面分析的主要內容，然後在其他章節介紹了電子與固體樣品的相互作用、電子光學基礎和研究材料表面常用的現代分析方法，包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質譜、場離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掠入射X射線衍射等。對這些表面分析方法的基本原理、儀器結構、技術特點和應用範圍等精華進行了較為系統的論述。該書不僅可作為材料科學與工程專業研究生教材，以及該專業本科生教學參考書，而且對直接從事表面科學的研究人員、分析測試人員和涉及表面現象的工程技術人員均有較大的參考價值。
作者介紹
編者:賈賢|責編:王婧//楊菁
目錄
第1章  緒論
  1.1  表面科學及其發展
  1.2  表面科學的應用
  1.3  表面的種類
  1.4  表面的特性
  1.5  表面分析的內容
  1.6  表面分析的基本原理及儀器基本組成
  1.7  表面分析的發展
  1.8  表面分析的應用領域
第2章  電子與固體樣品的相互作用
  2.1  電子與固體樣品的相互作用區域
  2.2  固體原子對入射電子的散射作用
  2.3  入射電子與樣品相互作用產生的信號
    2.3.1  背散射電子
    2.3.2  二次電子
    2.3.3  吸收電子
    2.3.4  透射電子
    2.3.5  特徵X射線
    2.3.6  俄歇電子
    2.3.7  陰極熒光與電子感生電導
  2.4  由電子與材料相互作用產生的分析方法
第3章  電子光學基礎
  3.1  光學顯微鏡的解析度
  3.2  電子波的波長
  3.3  電子透鏡
    3.3.1  靜電透鏡
    3.3.2  電磁透鏡
  3.4  電磁透鏡的像差及解析度
    3.4.1  球差
    3.4.2  像散
    3.4.3  色差
    3.4.4  解析度
  3.5  電磁透鏡的景深和焦長
    3.5.1  景深
    3.5.2  焦長
第4章  透射電子顯微鏡
  4.1  透射電鏡的工作原理和結構
    4.1.1  工作原理
    4.1.2  照明系統
    4.1.3  成像系統
    4.1.4  觀察與記錄系統
    4.1.5  真空系統
    4.1.6  供電控制系統
  4.2  選區電子衍射
    4.2.1  電子衍射原理
    4.2.2  電子衍射特點
    4.2.3  選區電子衍射操作
    4.2.4  電子衍射譜的基本特徵與指數標定
  4.3  電子顯微圖像
    4.3.1  成像操作

    4.3.2  像襯度
  4.4  試樣製備
    4.4.1  薄膜法
    4.4.2  復型法
    4.4.3  粉末樣品製備
    4.4.4  薄膜材料樣品的製備
  4.5  透射電鏡在表面分析中的應用
    4.5.1  薄膜的平面分析
    4.5.2  薄膜的橫截面分析
第5章  掃描電子顯微鏡
  5.1  掃描電鏡的結構和工作原理
    5.1.1  掃描電鏡的結構
    5.1.2  掃描電鏡的工作原理
  5.2  掃描電鏡的特點
  5.3  掃描電鏡的幾種電子圖像分析
    5.3.1  二次電子像的襯度
    5.3.2  背散射電子像的襯度
    5.3.3  吸收電子像
  5.4  掃描電鏡樣品的製備
  5.5  掃描電鏡在表面分析中的應用
    5.5.1  材料表面組織形態的觀察研究
    5.5.2  斷口形貌的觀察研究
    5.5.3  顯示微區成分差別和鑒別物相
    5.5.4  納米結構材料形態的觀察研究
第6章  電子探針
  6.1  電子探針的工作原理與結構
  6.2  波譜儀的工作原理及結構
    6.2.1  工作原理
    6.2.2  分光系統
    6.2.3  檢測系統
    6.2.4  波譜儀的特點
  6.3  能譜儀的工作原理與結構
    6.3.1  工作原理
    6.3.2  X射線探測器
    6.3.3  多道脈衝高度分析器
    6.3.4  能譜儀的特點
    6.3.5  WDS與EDS工作特性比較
  6.4  電子探針的分析方法及應用
    6.4.1  定點分析
    6.4.2  線掃描分析
    6.4.3  面掃描分析
第7章  X射線光電子能譜
  7.1  X射線光電子能譜儀的基本原理
  7.2  X射線光電子能譜儀的結構
    7.2.1  超高真空系統
    7.2.2  快速進樣室及樣品分析室
    7.2.3  離子源
    7.2.4  X射線激發源
    7.2.5  能量分析器
    7.2.6  探測器

    7.2.7  電腦系統
  7.3  樣品的製備
  7.4  X射線光電子能譜分析的特點
  7.5  X射線光電子能譜分析的應用
    7.5.1  元素及其化學狀態的定性分析
    7.5.2  定量分析
    7.5.3  元素沿深度方向分佈的分析
    7.5.4  成像技術面分析
第8章  俄歇電子能譜
  8.1  俄歇電子能譜的基本原理
    8.1.1  俄歇電子的產生
    8.1.2  俄歇電子的能量
    8.1.3  俄歇躍遷概率
    8.1.4  平均自由程與平均逃逸深度
    8.1.5  俄歇電子能譜
  8.2  俄歇電子能譜儀
  8.3  分析樣品的製備
  8.4  俄歇電子能譜法的特點
  8.5  俄歇電子能譜分析的應用
    8.5.1  表面元素定性鑒定
    8.5.2  表面元素的半定量分析
    8.5.3  表面元素的化學價態分析
    8.5.4  元素沿深度方向分佈的分析
    8.5.5  微區分析
第9章  二次離子質譜
  9.1  儀器構成與基本原理
  9.2  入射離子與樣品的相互作用
    9.2.1  濺射產額
    9.2.2  二次離子產額
  9.3  一次離子源
  9.4  質量分析器
  9.5  離子檢測器
  9.6  真空系統
  9.7  二次離子質譜儀
    9.7.1  二次離子質譜儀分類
    9.7.2  離子探針
    9.7.3  飛行時間質譜儀
    9.7.4  質譜圖的形式
  9.8  二次離子質譜儀的主要性能
  9.9  二次離子質譜儀的主要特點
  9.10  二次離子質譜的應用
    9.10.1  微量元素分析
    9.10.2  表面成分點分析
    9.10.3  元素麵分佈分析
    9.10.4  深度方向成分分析
    9.10.5  三維成分分析
    9.10.6  同位素分析
第10章  場離子顯微鏡與原子探針
  10.1  場離子顯微鏡
    10.1.1  場離子顯微鏡的結構和原理

    10.1.2  場離子顯微鏡的應用
  10.2  原子探針
    10.2.1  原子探針的結構和原理
    10.2.2  三維原子探針
    10.2.3  原子探針的應用
  10.3  樣品的製備
    10.3.1  由絲狀材料製備樣品的方法
    10.3.2  由薄膜材料製備樣品的方法
第11章  掃描隧道電子顯微鏡
  11.1  掃描隧道電鏡的結構及工作原理
    11.1.1  隧道電流
    11.1.2  基本結構及工作原理
    11.1.3  工作模式
  11.2  掃描隧道電鏡的特點
  11.3  掃描隧道電鏡的應用
    11.3.1  材料表面結構特徵研究
    11.3.2  材料表面結構相變研究
    11.3.3  液-固界面的電化學研究
    11.3.4  表面吸附研究
    11.3.5  表面化學研究
    11.3.6  表面原子分子加工操縱及納米結構構築
第12章  原子力顯微鏡
  12.1  原子力顯微鏡的結構及工作原理
  12.2  原子力顯微鏡的成像模式
    12.2.1  接觸模式
    12.2.2  非接觸模式
    12.2.3  輕敲模式
  12.3  原子力顯微鏡的特點
  12.4  原子力顯微鏡的應用
    12.4.1  薄膜材料的研究
    12.4.2  材料失效機理的研究
    12.4.3  納米摩擦學的研究
    12.4.4  現場電化學研究
    12.4.5  生物醫學研究
    12.4.6  高聚物表面研究
    12.4.7  測量針尖-樣品間的相互作用力曲線
    12.4.8  測量薄膜材料和納米結構機械性能
    12.4.9  納米結構加工
    12.4.10  研究金屬和半導體表面
第13章  掠入射X射線衍射分析
  13.1  掠入射X射線衍射基本原理
  13.2  掠入射X射線衍射幾何
  13.3  掠入射X射線衍射的應用
    13.3.1  薄膜的相分析
    13.3.2  表面層或薄膜的結構分析
    13.3.3  表面層或薄膜的應力分析
    13.3.4  薄膜厚度的測定
參考文獻

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