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材料電子顯微分析及力學性能測試技術開發與應用

  • 作者：編者:劉麗婷//丁瑩//許建軍|責編:張潼
  • 出版社：西北工業大學
  • ISBN：9787577501963
  • 出版日期：2025/10/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：181
人民幣：RMB 76 元      售價：元
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內容大鋼
    材料電子顯微分析及力學性能測試技術作為材料科學研究與材料性能評估的關鍵手段和方法，在材料學、物理學、化學等相關學科的科學研究中廣泛應用，是科研工作中不可或缺的重要支撐。
    本書深入研究材料電子顯微分析及力學性能測試的關鍵分析技術。以緒論開篇，引領讀者走進材料分析的重要領域，著重強調材料現代分析方法在科學研究和應用檢測中的關鍵地位。第二章闡釋材料電子顯微分析技術的開發與應用，向讀者呈現微觀層面精準剖析材料結構的手段。第三章闡述聚焦離子束技術製備透射電鏡樣品的方法，揭示高質量樣品製備對精確分析的重大意義。第四章探討材料力學性能測試技術的開發與應用，為評估材料力學性能提供有效途徑。第五章聚焦現代材料分析測試技術的多元開發與實踐應用，全方位展現該領域豐富多樣的技術成果與應用場景。書中詳盡展示數十項技術開發成果，針對每項技術從樣品測試難點切入，闡釋技術原理、講解創新突破點、設計開發方案、界定應用範圍，並借助實際案例增強讀者對該技術的理解。
    本書適合從事材料研究和分析測試技術研究的科研人員、教學工作者、工程技術人員閱讀，更是材料類專業研究生深入學習材料分析技術的重要參考書。
作者介紹
編者:劉麗婷//丁瑩//許建軍|責編:張潼
目錄
第一章  緒論
第二章  材料電子顯微分析技術開發與應用
  本章導讀
  第一節  掃描電子顯微分析方法概述
  第二節  透射電子顯微分析方法概述
  第三節  突破透射電鏡轉角局限的矩陣轉換法
  第四節  位錯的g／3g弱束暗場像拍攝方法
  第五節  實現三維表徵的二維會聚束電子衍射
  第六節  γ-TiAl合金中完整及非完整晶體的透射電子顯微分析
  參考文獻
第三章  FIB技術製備TEM樣品的方法開發與應用
  本章導讀
  第一節  FIB技術的發展及FIB-SEM雙束系統
  第二節  FIB技術製備TEM樣品的方法
  第三節  碳化硅塗層金剛石的TEM樣品製備及塗層厚度表徵方法
  第四節  MoS2塗層Ti3C2二維材料的TEM樣品製備
  第五節  GaN外延化合物半導體器件的TEM樣品製備方法
  第六節  一種基於FIB的石英玻璃平面TEM樣品製備方法
  第七節  傾轉角多重變化法製備高硬度差別焊接材料TEM樣品
  第八節  操作手輔助FIB加工絕緣材料TEM樣品
  參考文獻
第四章  材料力學性能測試技術開發與應用
  本章導讀
  第一節  材料力學性能測試方法概述
  第二節  多功能拉伸試驗裝置與技術
  第三節  一體化彎曲試驗裝置與技術
  第四節  通用型壓縮剪切裝置與技術
  第五節  微米薄片金屬循環載入拉伸裝置與技術
  第六節  力學試驗機專用拉力轉換裝置與技術
  第七節  可控製冷速的高溫拉伸裝置與技術
  參考文獻
第五章  現代材料分析測試技術的多元開發與實踐應用
  本章導讀
  第一節  一種掃描電鏡測試樣品固定機構
  第二節  一種透射電鏡樣品桿的存儲和插拔模擬機構
  第三節  目標晶向的TEM樣品製備方法
  第四節  蠕變-疲勞交互測試技術
  第五節  近原位SEM-疲勞測試技術
  第六節  發動機燃油調節杠桿卡滯原因分析
  第七節  空調壓縮機灰鑄鐵氣缸開裂原因分析
  參考文獻

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