幫助中心 | 我的帳號 | 關於我們

基礎質譜學(原著第3版)(精)

  • 作者:(德)于爾根·H.格羅斯|責編:李曉紅|譯者:王昊陽//李博
  • 出版社:化學工業
  • ISBN:9787122451231
  • 出版日期:2024/10/01
  • 裝幀:精裝
  • 頁數:848
人民幣:RMB 398 元      售價:
放入購物車
加入收藏夾

內容大鋼
    本書原著是質譜學經典著作,作者為國際知名質譜學家,德國海德堡大學教授。全面介紹了質譜基本原理、離子化過程、離子化方式、質譜儀器,內容系統深入,針對每一種質譜技術進行了細緻講解,適合作為研究生教材和系統學習質譜學的入門級教程,對於從事質譜工作的科研人員也有很好的參考價值。

作者介紹
(德)于爾根·H.格羅斯|責編:李曉紅|譯者:王昊陽//李博

目錄
第1章  概論
  1.1  質譜學:用途廣泛且不可或缺
  1.2  歷史回顧
    1.2.1  第一批質譜圖
    1.2.2  湯姆遜的拋物線攝譜儀
    1.2.3  質譜學的里程碑
  1.3  本書的目標和範圍
    1.3.1  質譜學面面觀
  1.4  什麼是質譜學?
    1.4.1  質譜學的基本原理
    1.4.2  質譜儀
    1.4.3  質量標度
    1.4.4  質譜圖
    1.4.5  質譜圖的統計學性質
    1.4.6  棒狀圖、輪廓圖和數據列表
  1.5  離子色譜圖
  1.6  質譜儀的性能
    1.6.1  靈敏度
    1.6.2  檢出限
    1.6.3  信噪比
  1.7  公認的術語
  1.8  單位、物理量和物理常數
  1.9  拓展閱讀
  1.10  質譜學精髓
  參考文獻
第2章  電離和離子解離的原理
  2.1  高能電子引起的氣相電離
    2.1.1  離子的形成
    2.1.2  伴隨電子電離的過程
    2.1.3  彭寧電離產生的離子
    2.1.4  電離能
    2.1.5  電離能和電荷局域化
  2.2  垂直躍遷
  2.3  電離效率和電離截面
  2.4  離子的內能及其進一步的命運
    2.4.1  自由度
    2.4.2  出現能
    2.4.3  鍵解離能和生成熱
    2.4.4  能量的隨機化
  2.5  准平衡理論
    2.5.1  准平衡理論的基本前提
    2.5.2  基本准平衡理論
    2.5.3  速率常數及其意義
    2.5.4  k(E)函數——典型示例
    2.5.5  由k(E)函數描述的反應離子
    2.5.6  直接裂解和重排裂解
  2.6  質譜中事件的時間尺度
    2.6.1  穩定離子、亞穩離子和不穩定離子
    2.6.2  離子存儲設備的時間尺度
  2.7  內能的實際影響

  2.8  逆反應——活化能和動能釋放
    2.8.1  逆反應的活化能
    2.8.2  動能釋放
    2.8.3  能量分配
  2.9  同位素效應
    2.9.1  一級動力學同位素效應
    2.9.2  同位素效應的測定
    2.9.3  二級動力學同位素效應
  2.10  電離能的測定
    2.10.1  電離能的傳統測定方法
    2.10.2  通過數據后處理提高電離能的準確度
    2.10.3  電離能準確度的實驗改進
    2.10.4  光電離過程
    2.10.5  光電子能譜及其衍生方法
    2.10.6  質量分析閾值電離技術
  2.11  測定出現能
    2.11.1  動力學位移
    2.11.2  分解圖
  2.12  氣相鹼度和質子親和能
  2.13  離子-分子反應
    2.13.1  反應級數
    2.13.2  溶液相與氣相反應的對比
  2.14  氣相離子化學小結
  參考文獻
第3章  同位素組成和準確質量
  3.1  元素的同位素分類
    3.1.1  單同位素元素
    3.1.2  雙同位素元素
    3.1.3  多同位素元素
    3.1.4  同位素丰度的表示
    3.1.5  原子、分子和離子質量的計算
    3.1.6  相對原子質量的自然變化
  3.2  同位素分佈的計算
    3.2.1  碳:一種X+1元素
    3.2.2  與同位素組成相關的術語
    3.2.3  二項式方法
    3.2.4  鹵素
    3.2.5  碳和鹵素的組合
    3.2.6  多項式方法
    3.2.7  氧、硫和硅
    3.2.8  多同位素元素
    3.2.9  同位素模式的實際應用方面
    3.2.10  質譜圖中同位素模式的精確記錄和分析
    3.2.11  從複雜同位素模式中獲取的信息
    3.2.12  解讀同位素模式的系統方法
  3.3  同位素富集與同位素標記
    3.3.1  同位素富集
    3.3.2  同位素標記
  3.4  解析度和分辨力
    3.4.1  定義

    11.4.2  標準樣品的製備
    11.4.3  正離子化
    11.4.4  正離子交換和正離子去除的必要性
    11.4.5  負離子加合物
    11.4.6  無溶劑樣品製備
    11.4.7  其他上樣方法
  11.5  LDI的應用
  11.6  MALDI的應用
    11.6.1  一般蛋白質的MALDI-MS分析
    11.6.2  蛋白質指紋圖譜和MALDI生物分型
    11.6.3  多?測序與蛋白質組學
    11.6.4  糖類的MALDI-MS分析
    11.6.5  寡核?酸的MALDI-MS分析
    11.6.6  合成聚合物的MALDI-MS分析
  11.7  模擬基質效應的特殊表面
    11.7.1  多孔硅表面上的解吸電離
    11.7.2  納米結構輔助的激光解吸電離
    11.7.3  MALDI的進一步變化
  11.8  MALDI質譜成像
    11.8.1  MALDI成像的方法論
    11.8.2  MALDI-MSI的儀器配置
    11.8.3  MALDI-MSI的應用
  11.9  大氣壓MALDI
  11.10  MALDI小結
  參考文獻
第12章  電噴霧電離
  12.1  電噴霧電離的產生歷程
    12.1.1  大氣壓電離及相關方法
    12.1.2  熱噴霧
    12.1.3  電流體動力學電離
    12.1.4  電噴霧電離的發展
  12.2  電噴霧電離介面
    12.2.1  基本設計的考慮因素
    12.2.2  ESI對不同流速的適應
    12.2.3  改進的電噴霧配置
    12.2.4  先進的大氣壓介面設計
    12.2.5  噴嘴-截取錐解離
  12.3  納升電噴霧
    12.3.1  nanoESI的實際考慮
    12.3.2  nanoESI的噴霧模式
    12.3.3  基於晶元的nanoESI
  12.4  ESI中的離子形成
    12.4.1  電噴霧羽流的形成
    12.4.2  帶電液滴的崩解
    12.4.3  帶電液滴形成氣相離子
  12.5  多電荷離子和電荷脫卷積
    12.5.1  多電荷離子的處理
    12.5.2  數學計算電荷脫卷積
    12.5.3  電腦輔助電荷脫卷積
    12.5.4  硬體輔助電荷脫卷積

    12.5.5  ESI中可控的電荷縮減
  12.6  ESI-MS的應用
    12.6.1  小分子的ESI-MS
    12.6.2  金屬配合物的ESI
    12.6.3  表面活性劑的ESI
    12.6.4  寡核?酸、DNA和RNA
    12.6.5  寡糖的ESI-MS
    12.6.6  觀察超分子化學發揮的效用
    12.6.7  高質量蛋白質和蛋白質複合物
  12.7  電噴霧小結
  參考文獻
第13章  直接解吸電離
  13.1  直接解吸電離的概念
  13.2  解吸電噴霧電離
    13.2.1  DESI的實驗裝置
    13.2.2  DESI實驗操作的參數
    13.2.3  DESI中離子形成的機理
    13.2.4  DESI的分析特性
  13.3  表面解吸大氣壓化學電離
  13.4  解吸大氣壓光電離
  13.5  與DESI相關的其他方法
    13.5.1  聲波噴霧解吸電離
    13.5.2  電噴霧萃取電離
    13.5.3  電噴霧輔助激光解吸電離
    13.5.4  激光燒蝕電噴霧電離
  13.6  快速蒸發電離質譜法
    13.6.1  REIMS的裝置
    13.6.2  REIMS的圖譜
    13.6.3  手術室中的REIMS
  13.7  大氣壓固體分析探針
    13.7.1  大氣壓固體分析探針的裝置
    13.7.2  大氣壓固體分析探針的實際應用
  13.8  實時直接分析
    13.8.1  DART離子源
    13.8.2  DART中正離子的形成
    13.8.3  DART中負離子的形成
    13.8.4  與DART相關的ADI方法
    13.8.5  DART的多種配置構造
    13.8.6  DART在分析方面的應用
  13.9  直接質譜法小結
  參考文獻
第14章  聯用技術
  14.1  色譜分析法
    14.1.1  色譜柱
    14.1.2  吸附和解吸附平衡
    14.1.3  死時間和死體積
    14.1.4  保留時間
    14.1.5  洗脫和洗出液
    14.1.6  分離和色譜解析度
    14.1.7  檢測器

    14.1.8  色譜圖
    14.1.9  氣相色譜法的實際考慮因素
    14.1.10  二維氣相色譜法
    14.1.11  高效液相色譜法
  14.2  色譜-質譜聯用的概念
    14.2.1  離子流色譜圖
    14.2.2  洗脫期質譜的重複採集
    14.2.3  選擇離子監測和靶向分析
    14.2.4  回顧性分析和非靶向分析
    14.2.5  選擇反應監測
  14.3  定量分析
    14.3.1  外標法定量
    14.3.2  內標法定量
    14.3.3  同位素稀釋法定量
    14.3.4  同位素組成異構體化合物的保留時間
  14.4  氣相色譜-質譜聯用
    14.4.1  GC-MS介面
    14.4.2  揮發性和衍生化
    14.4.3  柱流失
    14.4.4  快速GC-MS
    14.4.5  多路復用增加通量
    14.4.6  複雜的GC-MS聯用
  14.5  液相色譜-質譜聯用技術
  14.6  離子淌度質譜法
  14.7  串聯質譜作為LC-MS的補充
  14.8  超高分辨質譜
  14.9  聯用技術小結
  參考文獻
第15章  無機質譜法
  15.1  無機質譜的概念和技術
  15.2  熱電離質譜法
  15.3  火花源質譜法
  15.4  輝光放電質譜法
  15.5  電感耦合等離子體質譜法
  15.6  二次離子質譜法
    15.6.1  原子的SIMS
    15.6.2  原子SIMS的儀器
    15.6.3  分子的SIMS
    15.6.4  多原子初級離子束
  15.7  加速器質譜法
    15.7.1  加速器質譜法的實驗裝置
    15.7.2  加速器質譜法的設備
    15.7.3  加速器質譜法的應用
  15.8  無機質譜法小結
  參考文獻
附錄
  A.1  單位、物理量和物理常數
  A.2  元素的同位素組成
  A.3  碳的同位素模式
  A.4  氯和溴的同位素模式

  A.5  硅和硫的同位素模式
  A.6  讀取同位素模式
  A.7  同位素組成異構體和準確質量
  A.8  特徵離子和特徵中性丟失
  A.9  常見的雜質
  A.10  分子離子峰的識別
  A.11  解析質譜圖的規則
  A.12  分析質譜圖的系統方法
  A.13  選擇電離方法的指南
  A.14  如何識別正離子化
  A.15  氨基酸
  A.16  質譜學領域所獲得的諾貝爾獎
  A.17  一百個常用縮略語
索引

    3.4.2  解析度及其實驗測定
    3.4.3  分辨力及其對相對峰強度的影響
  3.5  準確質量
    3.5.1  精確質量和分子式
    3.5.2  相對論中的質量虧損
    3.5.3  質量虧損在質譜分析中的作用
    3.5.4  質量準確度
    3.5.5  準確度和精密度
    3.5.6  質量準確度和分子式的確定
    3.5.7  極端質量準確度:特殊考慮
  3.6  高分辨質譜分析的應用
    3.6.1  質量校準
    3.6.2  外標法質量校準
    3.6.3  內標法質量校準
    3.6.4  質量準確度的規範
    3.6.5  根據質譜數據確定分子式
  3.7  解析度與同位素模式的相互作用
    3.7.1  超高解析度下的多重同位素組成
    3.7.2  同位素組成異構體和準確質量
    3.7.3  大分子——在足夠解析度下的同位素模式
    3.7.4  大分子的同位素模式與解析度的關係
  3.8  電荷狀態與同位素模式的相互作用
  3.9  可視化複雜高分辨質譜數據集的方法
    3.9.1  質量差
    3.9.2  Kendrick質量標度
    3.9.3  Van Krevelen圖
  3.10  同位素和質量世界中的制高點
  參考文獻
第4章  質譜儀器
  4.1  如何產生離子束
  4.2  飛行時間儀器
    4.2.1  飛行時間儀器的基本原理
    4.2.2  TOF儀器:離子的速度和飛行時間
    4.2.3  線形飛行時間分析器
    4.2.4  較好的真空度可以提高分辨力
    4.2.5  激光解吸離子的能量擴散
    4.2.6  反射式飛行時間分析器
    4.2.7  延遲引出以提高分辨力
    4.2.8  正交加速TOF分析器
    4.2.9  oaTOF分析器的運行
    4.2.10  占空比
    4.2.11  具有摺疊「8」字形飛行軌跡的TOF分析器
    4.2.12  多重反射TOF
    4.2.13  TOF儀器的要點
  4.3  扇形磁場儀器
    4.3.1  扇形磁場儀器的演變
    4.3.2  扇形磁場儀器的原理
    4.3.3  磁場的聚焦作用
    4.3.4  雙聚焦扇形場儀器
    4.3.5  雙聚焦扇形場儀器的幾何形狀

    4.3.6  調整扇形場質譜儀的分辨力
    4.3.7  扇形場儀器的優化
    4.3.8  扇形磁場質譜儀的要點
  4.4  線形四極桿儀器
    4.4.1  簡介
    4.4.2  線形四極桿分析器的構造及工作原理
    4.4.3  線形四極桿的分辨力
    4.4.4  僅射頻四極桿、六極桿和八極桿
  4.5  線形四極離子阱
    4.5.1  線形僅射頻多極離子阱
    4.5.2  帶有軸向逐出的質量分析線形四極離子阱
    4.5.3  具有徑向逐出的質量分析線形離子阱
    4.5.4  根據LIT構建質譜儀器
  4.6  三維四極場離子阱
    4.6.1  簡介
    4.6.2  四極離子阱的原理
    4.6.3  離子阱中離子運動的可視化
    4.6.4  質量選擇穩定性模式
    4.6.5  質量選擇不穩定模式
    4.6.6  共振逐出
    4.6.7  離子數量的軸向調製和控制
    4.6.8  非線性共振
    4.6.9  離子阱的小型化與簡化
    4.6.10  數字波形四極離子阱
    4.6.11  四極離子阱的外部離子源
    4.6.12  離子阱的維護
    4.6.13  射頻四極桿設備概述
  4.7  傅里葉變換離子迴旋共振質譜儀
    4.7.1  從離子迴旋共振到質譜法
    4.7.2  離子迴旋運動的基礎知識
    4.7.3  迴旋運動的激發和檢測
    4.7.4  迴旋頻率帶寬和能量-時間的不確定性
    4.7.5  傅里葉變換的基本性質
    4.7.6  Nyquist準則
    4.7.7  FT-ICR-MS中的激發模式
    4.7.8  軸向捕集
    4.7.9  磁控運動和迴旋頻率的降低
    4.7.10  FT-ICR-MS的檢測和質量準確度
    4.7.11  ICR檢測池的設計
    4.7.12  FT-ICR質譜儀
    4.7.13  FT-ICR儀器概述
  4.8  靜電場軌道阱分析器
    4.8.1  靜電場軌道阱的工作原理
    4.8.2  靜電場軌道阱的離子檢測和分辨力
    4.8.3  靜電場軌道阱的離子注入
    4.8.4  與線形四極離子阱進行融合
    4.8.5  靜電場軌道阱小結
  4.9  融合型儀器
  4.10  離子淌度-質譜系統
    4.10.1  離子淌度分離

    4.10.2  疊環離子導向器
    4.10.3  用於離子淌度的行波離子導向器
    4.10.4  帶有離子淌度的融合型儀器
    4.10.5  包括離子淌度-質譜在內的融合型儀器概述
  4.11  離子的檢測
    4.11.1  模數轉換器
    4.11.2  數字化速率
    4.11.3  時間-數字轉換器
    4.11.4  離散打拿極電子倍增器
    4.11.5  通道電子倍增器
    4.11.6  微通道板
    4.11.7  后加速和轉換打拿極
    4.11.8  焦平面檢測器
  4.12  真空技術
    4.12.1  基本質譜儀的真空系統
    4.12.2  高真空泵
  4.13  購買一台質譜儀器的參考
  參考文獻
第5章  電子電離的實用方面
  5.1  EI離子源
    5.1.1  EI離子源的布局
    5.1.2  初級電子的產生
    5.1.3  EI離子源的總體效率和靈敏度
    5.1.4  離子束幾何形狀的優化
    5.1.5  安裝離子源
  5.2  樣品的導入
    5.2.1  儲罐/參考物進樣器系統
    5.2.2  直接進樣桿
    5.2.3  與直接進樣桿一起使用的樣品管
    5.2.4  如何使用直接進樣桿進行質譜測試
    5.2.5  自動式直接進樣桿
    5.2.6  使用直接進樣桿時的分餾效應
    5.2.7  直接暴露進樣桿
  5.3  熱裂解質譜法
  5.4  EI與氣相色譜儀聯用
  5.5  EI與液相色譜儀聯用
  5.6  低能量EI質譜法
  5.7  適合EI的分析物
  5.8  用於EI的質量分析器
  5.9  EI質譜資料庫
    5.9.1  NIST/EPA/NIH質譜資料庫
    5.9.2  Wiley Registry質譜資料庫
    5.9.3  質譜資料庫:概述
  5.10  EI小結
  參考文獻
第6章  有機離子的裂解和EI質譜圖的解析
  6.1  σ鍵的裂解
    6.1.1  分子離子的書寫規範
    6.1.2  無官能團小分子的σ鍵裂解
    6.1.3  偶電子規則

    6.1.4  含官能團小分子中的σ鍵裂解
  6.2  α-裂解
    6.2.1  丙酮分子離子的α-裂解
    6.2.2  Stevenson規則
    6.2.3  不對稱烷基酮的α-裂解
    6.2.4  ?基正離子和碳正離子
    6.2.5  含雜原子烷基鏈的α-裂解
    6.2.6  烷基胺的α-裂解
    6.2.7  氮規則
    6.2.8  烷基醚和烷基醇的α-裂解
    6.2.9  電荷保留在雜原子上
    6.2.10  硫醚的α-裂解
    6.2.11  鹵代烴的α-裂解
    6.2.12  串聯α-裂解
    6.2.13  串聯α-裂解用於鑒定位置異構體
  6.3  荷基異位離子
    6.3.1  荷基異位離子的定義
    6.3.2  荷基異位離子的形成和性質
    6.3.3  荷基異位離子作為中間體
  6.4  ?基裂解
    6.4.1  烷基苯中?基裂解
    6.4.2  [C6H5]+ 和[C7H7]+ 進一步的命運
    6.4.3  [C7H8]+? 和[C8H8]+? 的異構化
    6.4.4  環加雙鍵數
  6.5  烯丙基裂解
    6.5.1  脂肪族烯烴中烯丙基鍵的裂解
    6.5.2  定位雙鍵的方法
  6.6  非活化鍵的裂解
    6.6.1  飽和烴類
    6.6.2  碳正離子
    6.6.3  分子量非常大的烴類
  6.7  分子離子峰的識別
    6.7.1  分子離子峰識別的規則
    6.7.2  常見的中性丟失
  6.8  McL重排
    6.8.1  醛和酮的McL重排
    6.8.2  羧酸及其衍生物的裂解
    6.8.3  烷基苯的McL重排
    6.8.4  雙氫轉移的McL重排
    6.8.5  ?基與苯甲?基的區別
    6.8.6  無處不在的增塑劑
  6.9  逆Diels-Alder反應
    6.9.1  逆Diels-Alder反應的機理
    6.9.2  逆Diels-Alder反應的廣泛存在
    6.9.3  天然產物中的逆Diels-Alder反應
  6.10  CO的消除
    6.10.1  酚類化合物的CO丟失
    6.10.2  ?的CO和C2H2丟失
    6.10.3  芳基烷基醚的裂解
    6.10.4  過渡金屬羰基配合物的CO丟失

    6.10.5  羰基化合物的CO丟失
    6.10.6  區分CO、N2和C2H4的丟失
  6.11  熱降解與離子裂解的區別
    6.11.1  脫羰和脫羧
    6.11.2  RDA反應
    6.11.3  烷基醇的脫水
    6.11.4  有機鹽的EI質譜圖
  6.12  離子中丟失烯烴
    6.12.1  離子的McL重排
    6.12.2  反應
  6.13  離子-中性複合物
    6.13.1  離子-中性複合物存在的證據
    6.13.2  離子-中性複合物中的引力
    6.13.3  離子-中性複合物的標準
    6.13.4  自由基正離子的離子-中性複合物
  6.14  鄰位消除
    6.14.1  分子離子的鄰位消除
    6.14.2  偶電子離子的鄰位消除
    6.14.3  硝基芳烴裂解中的鄰位消除
  6.15  雜環化合物
    6.15.1  飽和雜環化合物
    6.15.2  芳香雜環化合物
  6.16  質譜解析指南
    6.16.1  規則總結
    6.16.2  解析質譜圖的系統方法
  參考文獻
第7章  化學電離
  7.1  化學電離的基本原理
    7.1.1  正離子化學電離中離子的形成
    7.1.2  CI離子源
    7.1.3  化學電離技術及其術語
    7.1.4  化學電離的靈敏度
  7.2  化學電離中的質子化
    7.2.1  質子的來源
    7.2.2  甲烷試劑氣形成的等離子體
    7.2.3  CH5+及其相關離子
    7.2.4  質子化的能量學
    7.2.5  比試劑氣PA更高的雜質
    7.2.6  以甲烷為試劑氣的PICI圖譜
    7.2.7  使用其他試劑氣的PICI
  7.3  質子轉移反應-質譜法
    7.3.1  PTR-MS中試劑離子的形成
    7.3.2  PTR-MS中分析物離子的形成
  7.4  電荷轉移化學電離
    7.4.1  CT的能量學
    7.4.2  CTCI中的試劑氣
    7.4.3  化合物類別——選擇性的CTCI
    7.4.4  CTCI的區域選擇性和立體選擇性
  7.5  負離子化學電離
  7.6  電子捕獲負離子化

    7.6.1  通過電子捕獲形成離子
    7.6.2  電子捕獲的能量學
    7.6.3  產生熱電子
    7.6.4  ECNI圖譜的外觀
    7.6.5  ECNI的應用
  7.7  解吸化學電離
  7.8  大氣壓化學電離
    7.8.1  大氣壓電離
    7.8.2  大氣壓化學電離
    7.8.3  APCI中正離子的形成
    7.8.4  APCI中負離子的形成
    7.8.5  APCI圖譜
  7.9  大氣壓光電離
    7.9.1  APPI中的離子形成
    7.9.2  APPI圖譜
  7.10  CI、APCI和APPI小結
  參考文獻
第8章  場電離和場解吸
  8.1  場電離和場解吸的演變
  8.2  場電離過程
  8.3  場電離和場解吸的離子源
  8.4  場發射極
    8.4.1  空白金屬絲作為發射極
    8.4.2  活化過的發射極
    8.4.3  發射極溫度
    8.4.4  活化發射極的操作
  8.5  場電離質譜法
    8.5.1  FI-MS中[M+H]+的來源
    8.5.2  FI-MS中的多電荷離子
    8.5.3  場誘導解離
    8.5.4  FI的準確質量圖譜
    8.5.5  氣相色譜-場電離質譜聯用
  8.6  場解吸圖譜
    8.6.1  通過場電離在FD-MS中形成離子
    8.6.2  在FD-MS中預先形成離子的解吸
    8.6.3  在FD-MS中團簇離子的形成
    8.6.4  離子型分析物的FD-MS
    8.6.5  FD圖譜採集的時間演變
    8.6.6  最佳陽極溫度和熱分解
    8.6.7  聚合物的FD-MS
    8.6.8  負離子場解吸——一種罕見的例外
    8.6.9  FD-MS中的離子類型
  8.7  液體注射場解吸電離
    8.7.1  LIFDI概述
    8.7.2  毛細管的定位
  8.8  FI-MS和FD-MS的一般性質
    8.8.1  FI-MS和FD-MS的靈敏度
    8.8.2  FI、FD和LIFDI的分析物及實際考慮因素
    8.8.3  FI和FD的質量分析器
  8.9  FI、FD、LIFDI小結

  參考文獻
第9章  串聯質譜法
  9.1  串聯質譜法的概念
    9.1.1  空間串聯和時間串聯
    9.1.2  串聯質譜的象形圖示
    9.1.3  串聯質譜法的術語
  9.2  亞穩態離子的解離
  9.3  碰撞誘導解離
    9.3.1  在質譜儀中實現碰撞
    9.3.2  碰撞期間的能量轉移
    9.3.3  CID中的單次和多次碰撞
    9.3.4  離子活化過程的時間尺度
  9.4  表面誘導解離
  9.5  TOF儀器上的串聯質譜
    9.5.1  利用ReTOF技術的串聯質譜
    9.5.2  曲線場反射器
    9.5.3  真串聯TOF儀器上的串聯質譜
  9.6  帶有扇形磁場儀器的串聯質譜
    9.6.1  扇形磁場之前FFR中的解離
    9.6.2  質量分析離子動能譜
    9.6.3  動能釋放的測定
    9.6.4  「B/E=常數」的聯動掃描
    9.6.5  其他的聯動掃描功能
    9.6.6  多扇區儀器
  9.7  擁有線形四極桿分析器的串聯質譜
    9.7.1  三重四極桿質譜儀
    9.7.2  三重四極桿串聯質譜的掃描模式
    9.7.3  五級四極桿儀器
  9.8  四極離子阱串聯質譜儀
  9.9  線形四極離子阱的串聯質譜
    9.9.1  QqLIT的串聯質譜
    9.9.2  帶徑向拋射的線形離子阱串聯質譜
  9.10  靜電場軌道阱質譜儀的串聯質譜
    9.10.1  高能C形阱解離
    9.10.2  擴展型LIT-靜電場軌道阱融合式質譜儀
  9.11  FT-ICR質譜儀的串聯質譜——第一部分
  9.12  紅外多光子解離
  9.13  電子捕獲解離
    9.13.1  電子捕獲解離的原理
    9.13.2  多?離子的ECD裂解
  9.14  FT-ICR質譜儀的串聯質譜——第二部分
    9.14.1  FT-ICR-MS中的IRMPD
    9.14.2  紅外光解離光譜法
    9.14.3  黑體紅外輻射解離
    9.14.4  串聯FT-ICR-MS的ECD
  9.15  電子轉移解離
  9.16  電子分離解離
  9.17  串聯質譜的特殊應用
    9.17.1  催化研究中的離子-分子反應
    9.17.2  氣相氫-氘交換

    9.17.3  氣相鹼度和質子親和能的測定
    9.17.4  中和-再電離質譜法
  9.18  串聯質譜小結
  參考文獻
第10章  快速原子轟擊
  10.1  歷史概覽
  10.2  分子束固體分析
  10.3  FAB和LSIMS的離子源
    10.3.1  FAB離子源
    10.3.2  LSIMS離子源
    10.3.3  FAB進樣桿
    10.3.4  FAB和LSIMS的樣品製備
  10.4  FAB和LSIMS中離子的形成
    10.4.1  無機樣品中離子的形成
    10.4.2  有機樣品中離子的形成
  10.5  FAB和LSIMS的液體基質
    10.5.1  液體基質的作用
    10.5.2  FAB基質質譜圖的一般特性
    10.5.3  FAB-MS中的副反應
  10.6  FAB-MS的應用
    10.6.1  中低極性物質的FAB-MS分析
    10.6.2  離子分析物的FAB-MS分析
    10.6.3  高質量數分析物的FAB-MS分析
    10.6.4  FAB模式下的準確質量測定
    10.6.5  低溫FAB
    10.6.6  FAB-MS與多?測序
  10.7  FAB和LSIMS的共同特徵
    10.7.1  FAB-MS的靈敏度
    10.7.2  FAB-MS中的離子類型
    10.7.3  FAB-MS的分析物
    10.7.4  FAB-MS的質量分析器
    10.7.5  FAB和LSIMS的展望
  10.8  離子簇碰撞理論
  10.9  ?-252等離子體解吸
  10.10  粒子撞擊電離小結
  參考文獻
第11章  基質輔助激光解吸電離
  11.1  LDI和MALDI離子源
  11.2  離子的形成
    11.2.1  離子產率和激光通量
    11.2.2  激光輻照對錶面的影響
    11.2.3  激光解吸羽流的時間演化
    11.2.4  MALDI中的離子形成過程
    11.2.5  離子形成的「倖存者」模型
  11.3  MALDI的基質
    11.3.1  固體基質的作用
    11.3.2  UV-MALDI中的基質
    11.3.3  MALDI基質圖譜的特徵
  11.4  樣品製備
    11.4.1  MALDI靶板

  • 商品搜索:
  • | 高級搜索
首頁新手上路客服中心關於我們聯絡我們Top↑
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司 臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話:02-2381-2033 02-2381-1863 時間:週一-週五 10:00-17:00
 服務信箱:bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證:浙B2-20060032