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材料分析技術(教育部高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材)

  • 作者：編者:張耀//萬克樹//張法明//羅強|責編:陶艷玲
  • 出版社：化學工業
  • ISBN：9787122444721
  • 出版日期：2024/03/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：263
人民幣：RMB 69 元      售價：元
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內容大鋼
    《材料分析技術》是教育部高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材。書中聚焦材料分析的基本原理和方法，主要介紹了X射線分析、電子束分析、表面分析、分子光譜分析、熱分析。第1章為緒論，概述了材料分析技術。第2章重點講述X射線的物理基礎，X射線衍射、X射線光譜分析、X-CT分析以及X射線同步輻射分析。第3章重點講述電子束分析的物理基礎，並著重講解透射電鏡、掃描電鏡分析。第4章側重於兩種用於表面成分分析的能譜表徵方法（X射線光電子譜分析和俄歇能譜分析）以及兩種掃描探針顯微鏡（掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡）用於表面形貌結構分析。第5章的分子振動光譜則著重介紹常用的傅里葉變換紅外吸收光譜和拉曼散射光譜。第6章的熱分析重點介紹差熱分析、差示掃描量熱分析和熱重分析。
    本書可作為高等院校材料類各專業的本科和研究生教材，也可作為相關領域科技工作者的參考書。
作者介紹
編者:張耀//萬克樹//張法明//羅強|責編:陶艷玲
目錄
第1章  緒論
  1.1  材料分析概述
  1.2  本書的內容和要求
第2章  X射線分析
  2.1  X射線的物理基礎
    2.1.1  X射線的發現
    2.1.2  X射線的物理本質
    2.1.3  X射線的產生機理
    2.1.4  X射線的輻射——連續X射線譜與特徵X射線譜
    2.1.5  X射線與物質的相互作用
    2.1.6  X射線的吸收限與濾波片
    2.1.7  X射線探測器
    思考題
  2.2  X射線的衍射原理
    2.2.1  引言
    2.2.2  X射線衍射的方向理論
    2.2.3  X射線衍射的強度理論
    思考題
  2.3  X射線衍射的分析方法
    2.3.1  引言
    2.3.2  單晶衍射分析方法
    2.3.3  粉末多晶衍射分析方法
    思考題
  2.4  物相的定性分析
    2.4.1  PDF卡片索引
    2.4.2  定性分析基本程序
    2.4.3  自動檢索
  2.5  物相的定量分析
    2.5.1  外標法
    2.5.2  內標法
    2.5.3  自標法
  2.6  X射線光譜分析
    2.6.1  X射線光譜分析的原理
    2.6.2  X射線熒光光譜
    2.6.3  波長色散X射線光譜儀
    2.6.4  能量色散X射線光譜儀
    2.6.5  波譜儀與能譜儀的比較
    2.6.6  電子探針X射線顯微分析
    思考題
  2.7  X射線CT
    2.7.1  引言
    2.7.2  CT原理
    2.7.3  CT重建
    2.7.4  CT設備
    2.7.5  CT指標
    2.7.6  CT應用
    思考題
  2.8  同步輻射光
    2.8.1  引言
    2.8.2  同步輻射光的突出優勢

    2.8.3  同步輻射光源的發展歷史
    2.8.4  同步輻射光源的基本構造
    2.8.5  主要同步輻射光源
    2.8.6  同步輻射光源的使用案例
  2.9  X射線的其他分析技術及使用安全
    2.9.1  X射線吸收精細結構譜學
    2.9.2  小角X射線散射技術
    2.9.3  X射線的危害與防護
    思考題
第3章  電子束分析
  3.1  電子分析基礎
    3.1.1  電子分析物理基礎
    3.1.2  電子與物質的相互作用
    3.1.3  電子與物質的相互作用體積
    3.1.4  電子產生及電子槍
    3.1.5  電子控制
    3.1.6  磁透鏡的像差
    3.1.7  磁透鏡的景深和焦深
    思考題
  3.2  透射電子顯微鏡原理
    3.2.1  透射電子顯微鏡構造
    3.2.2  樣品製備
    3.2.3  衍射花樣分析
    思考題
  3.3  透射電子顯微鏡的襯度分析以及顯微分析
    3.3.1  顯微成像
    3.3.2  顯微圖像分析
    思考題
  3.4  掃描電子顯微分析
    3.4.1  掃描電鏡的基本結構
    3.4.2  掃描電鏡的性能指標
    3.4.3  掃描電鏡樣品的要求與製備
    3.4.4  掃描電鏡的操作
    3.4.5  掃描電鏡的圖像解釋
    3.4.6  二次電子成像與背散射成像對比
    思考題
第4章  表面分析
  4.1  表面分析概論
  4.2  表面能譜分析
    4.2.1  X射線光電子能譜
    4.2.2  俄歇電子能譜
    思考題
  4.3  掃描探針顯微鏡
    4.3.1  引言
    4.3.2  掃描隧道顯微鏡
    4.3.3  原子力顯微鏡
    思考題
第5章  分子振動光譜分析
  5.1  紅外光譜分析技術
    5.1.1  引言

    5.1.2  紅外光譜的介紹
    5.1.3  紅外光譜的定性與定量分析
    5.1.4  紅外光譜儀
    5.1.5  紅外光譜的應用與譜圖解析
    5.1.6  紅外光譜技術的新進展與展望
    思考題
  5.2  拉曼光譜分析技術
    5.2.1  引言
    5.2.2  拉曼光譜的物理學原理
    5.2.3  拉曼光譜儀的構造和原理簡介
    5.2.4  拉曼光譜與紅外光譜的比較
    5.2.5  拉曼光譜的應用
    5.2.6  拉曼光譜技術的新進展
    思考題
第6章  熱分析
  6.1  熱分析概述
    6.1.1  熱分析技術發展史
    6.1.2  熱分析技術分類和特點
    思考題
  6.2  差熱分析法
    6.2.1  差熱分析基本原理和儀器組成
    6.2.2  差熱分析曲線
    思考題
  6.3  差示掃描量熱法
    6.3.1  系統組成與原理
    6.3.2  DSC曲線
    思考題
  6.4  熱重分析法
    6.4.1  儀器組成和基本原理
    6.4.2  熱重曲線
    思考題
  6.5  實驗影響因素和應用舉例
    6.5.1  儀器因素的影響
    6.5.2  試樣特性的影響
    6.5.3  實驗條件的影響
    6.5.4  熱分析應用舉例
附錄（電子版）
  附錄1  常用物理常數
  附錄2  質量吸收係數μl ρ
  附錄3  原子散射係數f
  附錄4  各種點陣的結構因子|FHKL|
  附錄5  粉末法的多重性因子Phkl
  附錄6  角因數1+cos22θsin2θcosθ
  附錄7  某些物質的德拜溫度Θ
  附錄8  德拜函數?(x)x+
  附錄9  12cos2θsinθ+cos2θθ的數值
  附錄10  立方晶系的晶面夾角
  附錄11  一些物質的晶面間距
  附錄12  立方與六方晶體可能出現的反射
思考題參考答案（電子版）

參考文獻

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