幫助中心 | 我的帳號 | 關於我們
進階搜尋
car

同類熱銷排行榜

最近瀏覽的商品

半導體物理與器件實驗教程(集成電路科學與工程類新工科系列教材)

  • 作者：編者:計峰|責編:祝清亮
  • 出版社：山東大學
  • ISBN：9787560769523
  • 出版日期：2023/10/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：129
人民幣：RMB 26 元      售價：元
放入購物車
加入收藏夾
內容大鋼
    本書主要分為半導體物理實驗及半導體器件實驗兩篇。半導體物理實驗包括單晶硅的激光定向、單晶硅中晶體缺陷的腐蝕顯示、半導體材料導電類型的測定、四探針法測量半導體電阻率、霍爾效應實驗、高頻光電導衰減法測少子壽命、半導體材料光學特性的測量、MOS管的C—V特性測量、PN結勢壘特性及雜質的測試分析、PN結正向特性的研究和應用等十個實驗。半導體器件實驗包括髮光二極體特性參數測量、穩壓二極體特性參數測量、雙極型晶體管直流參數測量、場效應管直流參數測量、晶體管基極電阻的測量、晶體管特徵頻率的測量、數字電橋測量電位器的電阻值、集成電路特性參數測量、太陽能電池參數測量等十個實驗。
    本書可作為微電子、集成電路及電子科學技術等專業的半導體物理實驗及半導體器件實驗教材或教學參考書。
作者介紹
編者:計峰|責編:祝清亮
目錄
上篇  半導體物理實驗
  實驗一  單晶硅的激光定向
  實驗二  單晶硅中晶體缺陷的腐蝕顯示
  實驗三  半導體材料導電類型的測定
  實驗四  四探針法測量半導體電阻率
  實驗五  霍爾效應實驗
  實驗六  高頻光電導衰減法測少子壽命
  實驗七  半導體材料光學特性的測量
  實驗八  MOS管的C-V特性測量
  實驗九  PN結勢壘特性及雜質的測試分析
  實驗十  PN結正向特性的研究和應用
下篇  半導體器件實驗
  實驗十一  發光二極體特性參數測量
  實驗十二  穩壓二極體特性參數測量
  實驗十三  雙極型晶體管直流參數測量(1)
  實驗十四  雙極型晶體管直流參數測量(2)
  實驗十五  場效應管直流參數測量
  實驗十六  晶體管基極電阻的測量
  實驗十七  晶體管特徵頻率的測量
  實驗十八  數字電橋測量電位器的電阻值
  實驗十九  集成電路特性參數測量
  實驗二十  太陽能電池參數測量
參考文獻
  附錄一  Excel中自動擬合曲線的方法
  附錄二  YB4811型半導體管特性圖示儀使用說明
  附錄三  YB2811LCR數字電橋簡介

  • 商品搜索：
  • | 高級搜索
首頁│ 新手上路│ 客服中心│ 關於我們│ 聯絡我們│ Top↑│
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司 臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話：02-2381-2033 02-2381-1863　時間：週一-週五 10:00-17:00
　服務信箱：bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證：浙B2-20060032