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現代衍射方法

  • 作者：編者:(荷)艾瑞克·J.米特梅耶//(德)烏多·韋爾澤爾|責編:翁靖一//孫曼|譯者:饒群力//堯仁良
  • 出版社：科學
  • ISBN：9787030746535
  • 出版日期：2023/03/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：475
人民幣：RMB 198 元      售價：元
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內容大鋼
    本書全面介紹了各種現代衍射方法，注重實踐案例，特別是在原位測量方面，旨在使讀者深入了解現代衍射技術的廣泛應用，尤其是與當今材料科學的密切結合，在科學研究中發揮著日益強大的作用。
    全書共分四部分，第一部分是衍射揭示晶體結構信息，包括單晶結構解析（第1章）、粉末衍射全譜精修（第2章）和非晶、無序晶體、納米晶的全散射分析（第3章）；第二部分是衍射材料微結構和缺陷分析，包括第4章的線形分析理論與技術，以及工程技術領域的實際應用，如第5、6章的應力衍射分析，特別是深度分佈分析，第7章的取向織構衍射分析（包括X射線、同步輻射、中子、透射電子、背散射電子），第8、9章側重薄膜及表面的衍射分析；第三部分是物相的定性定量分析，介紹現代流行的Rietveld精修方法，即衍射全譜擬合（第10章），以及這種方法在材料動力學研究中的具體應用（第11章）；第四部分主要涉及現代衍射的儀器裝置，第12章介紹各類光源（同步輻射、中子和實驗室光源）、衍射幾何等，第13章介紹了衍射設備的檢定和校驗方法，第14章專門介紹同步輻射光源的應用，第15章是高能電子衍射，第16章對原位衍射測試中的主要問題做了點評和總結。
    本書實用案例可為社會各界涉及晶體衍射的科研工作者提供啟發，也可對工程實踐應用提供具體的指導。總之，本書既可作為有一定衍射理論基礎的研究人員和測試人員的指南式參考工具書，也可作為理工科研究生的教學用書或參考資料。
作者介紹
編者:(荷)艾瑞克·J.米特梅耶//(德)烏多·韋爾澤爾|責編:翁靖一//孫曼|譯者:饒群力//堯仁良
目錄
中文版序
譯者序
前言
第一部分  結構確定
  第1章  單晶結構測定
    1.1  引言
    1.2  電子密度
    1.3  衍射和相位問題
    1.4  傅里葉循環和差值傅里葉圖
    1.5  衍射強度的統計特性
    1.6  帕特森函數
    1.7  帕特森法
    1.8  直接法
    1.9  電荷翻轉和低密度消除
    1.10  展望與總結
    參考文獻
  第2章  現代Rietveld精修實用指南
    2.1  峰值強度
    2.2  峰位置
    2.3  峰形
    2.4  背景
    2.5  數學過程
    2.6  一致性判斷因子
    2.7  模擬退火的全局優化方法
    2.8  剛體
    2.9  罰函數介紹
    2.10  參數化Rietveld精修
      2.10.1  時間相關的標度因子的參數化動力學分析
      2.10.2  壓力決定的晶格常數參數化以確定狀態方程
      2.10.3  溫度相關的對稱模式的參數化以確定有序參數
    參考文獻
  第3章  全散射分析納米顆粒結構
    3.1  引言
    3.2  全散射實驗
      3.2.1  X射線的使用
      3.2.2  中子的使用
    3.3  結構模型與精修
      3.3.1  粒子形狀因子建模
      3.3.2  有限納米顆粒建模
    3.4  案例
      3.4.1  BaTiO3
      3.4.2  CdSe/ZnS核-殼顆粒
    3.5  展望
    參考文獻
第二部分  微結構分析
  第4章  衍射線形分析
    4.1  引言
    4.2  儀器寬化
      4.2.1  使用參考（標準）樣品確定儀器峰形
      4.2.2  通過計算確定儀器峰形

      4.2.3  扣除/結合儀器線寬
    4.3  結構、樣品寬化
      4.3.1  衍射線寬化測量和衍射線的傅里葉級數形式
      4.3.2  柱體長度/晶粒尺寸和柱體長度/晶粒尺寸分佈
      4.3.3  微應變寬化
      4.3.4  各向異性尺寸和（類）微應變衍射線寬化
  ……
第三部分  相分析和相變
第四部分衍射方法和儀器

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