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材料現代分析與測試技術(第2版吉林省普通本科高校省級重點教材)

  • 作者：編者:王曉春//張希艷|責編:肖姝//白天明
  • 出版社：國防工業
  • ISBN：9787118126129
  • 出版日期：2022/09/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：352
人民幣：RMB 78 元      售價：元
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內容大鋼
    本書講述X射線衍射分析、電子顯微分析、熱分析、振動光譜分析、電子能譜分析、發光材料光譜分析、核磁共振分析的基本理論、儀器結構原理、實驗技術和測試結果的分析處理及應用，在分析測試方法應用方面增加了測試方法知識體系再整合，將以測試方法為模塊的知識體系整合成按測試項目選擇和使用各種分析測試方法，並採用了三個比較完整的實例講述分析測試方法的實際應用。
    電子顯微分析中編寫了掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡分析；熱分析中，近年來示差掃描量熱分析（DSC）取代差熱分析（DTA），以DTA為基礎擴充了DSC內容；對光電子能譜分析的原理、譜圖判讀進行了系統的整理和論述；增加了發光材料光譜分析內容，用光譜分析研究發光材料的能級結構。
    本書可作為高等學校各材料專業的教材，也可供相關專業的科技人員參考。
作者介紹
編者:王曉春//張希艷|責編:肖姝//白天明
目錄
第1章  X射線衍射分析
  1.1  X射線的性質及X射線的產生
    1.1.1  X射線的性質
    1.1.2  X射線的產生
    1.1.3  X射線譜
    1.1.4  X射線的吸收和單色X射線的獲得
  1.2  X射線與物質的相互作用
    1.2.1  散射效應
    1.2.2  光電效應
  1.3  X射線衍射的基本理論
    1.3.1  倒易點陣
    1.3.2  X射線衍射幾何條件
    1.3.3  X射線衍射線束的強度
  1.4  X射線衍射分析方法
    1.4.1  多晶體材料衍射分析研究方法
    1.4.2  單晶體材料衍射分析研究方法
  1.5  衍射數據的基本處理
    1.5.1  人工數據處理
    1.5.2  電腦數據處理
  1.6  X射線衍射的分析與應用
    1.6.1  X射線衍射分析的應用
    1.6.2  人工手動分析與應用
    1.6.3  電腦程序分析與應用
  參考文獻
第2章  電子顯微分析
  2.1  電子光學基礎
    2.1.1  顯微鏡的解析度及光學顯微鏡的局限性
    2.1.2  電子的波性及波長
    2.1.3  電子在電磁場中的運動與電磁透鏡
    2.1.4  電磁透鏡的像差
    2.1.5  電磁透鏡的理論解析度
    2.1.6  電磁透鏡的場深和焦深
  2.2  電子與固體物質的相互作用
    2.2.1  電子與固體物質作用的物理過程
    2.2.2  電子與固體物質相互作用產生的信號
    2.2.3  相互作用體積與信號產生的深度和廣度
  2.3  透射電子顯微鏡
    2.3.1  透射電子顯微鏡的發展
    2.3.2  透射電子顯微鏡的基本結構
    2.3.3  透射電子顯微鏡的主要性能指標
    2.3.4  透射電子顯微鏡的樣品製備
  2.4  電子衍射
    2.4.1  電子衍射的特點
    2.4.2  電子衍射基本公式
    2.4.3  單晶電子衍射譜
    2.4.4  多晶電子衍射譜
    2.4.5  透射電子顯微鏡中的電子衍射方法
    2.4.6  電子衍射譜的標定
    2.4.7  電子衍射物相分析的特點
  2.5  透射電子顯微像及其襯度

    2.5.1  質厚襯度與復型膜電子像
    2.5.2  薄晶體電子顯微像及其襯度
  2.6  掃描電子顯微鏡
    2.6.1  掃描電子顯微鏡的發展
    2.6.2  掃描電鏡的工作原理及特點
    2.6.3  掃描電鏡的基本結構
    2.6.4  掃描電鏡的主要性能指標
    2.6.5  掃描電鏡的場深
    2.6.6  掃描電鏡的樣品製備
  2.7  掃描電鏡像及其襯度
    2.7.1  掃描電鏡像的襯度
    2.7.2  二次電子像
    2.7.3  背散射電子像
    2.7.4  吸收電子像
  2.8  電子探針X射線顯微分析
    2.8.1  電子探針的結構及工作原理
    2.8.2  波譜儀
    2.8.3  能譜儀
    2.8.4  波譜儀和能譜儀的比較
    2.8.5  電子探針分析方法及其應用
  2.9  掃描探針顯微分析
    2.9.1  掃描隧道顯微鏡及其應用
    2.9.2  原子力顯微鏡及其應用
    2.9.3  其他系列的掃描探針顯微鏡
  參考文獻
第3章  熱分析
  3.1  概述
    3.1.1  熱分析的發展歷史
    3.1.2  熱分析的術語定義與分類
    3.1.3  熱分析一般術語
  3.2  差熱分析和示差掃描量熱分析
    3.2.1  差熱分析
    3.2.2  示差掃描量熱分析
    3.2.3  差熱分析與示差掃描量熱分析的應用
  3.3  熱重分析
    3.3.1  熱重分析的基本原理
    3.3.2  熱重分析儀
    3.3.3  熱重分析的方法
    3.3.4  熱重分析的應用
  3.4  其他熱分析方法
    3.4.1  熱膨脹法
    3.4.2  熱傳導法
  參考文獻
第4章  振動光譜分析
  4.1  紅外吸收的基本原理
    4.1.1  光與物質分子的相互作用
    4.1.2  雙原子分子的紅外吸收
    4.1.3  多原子分子的紅外吸收
  4.2  紅外光和紅外光譜
    4.2.1  紅外光

    4.2.2  紅外光譜圖
    4.2.3  影響頻率位移的因素
    4.2.4  影響譜帶強度的因素
    4.2.5  紅外光譜區的劃分
    4.2.6  紅外光譜法的特點
  4.3  紅外光譜儀
    4.3.1  色散型紅外分光光度計
    4.3.2  傅里葉變換紅外分光光度計
  4.4  紅外光譜分析的樣品製備
    4.4.1  液體和氣體樣品制樣方法
    4.4.2  固體樣品制樣方法
    4.4.3  制樣方法對紅外光譜圖質量的影響
  4.5  紅外光譜分析在材料研究中的應用
    4.5.1  無機化合物的基團振動頻率
    4.5.2  紅外光譜分析在無機材料製備研究中的應用
    4.5.3  紅外光譜的定性分析
    4.5.4  紅外光譜定量分析
  4.6  激光拉曼光譜分析法
    4.6.1  概述
    4.6.2  拉曼光譜的基本原理
    4.6.3  拉曼光譜儀
    4.6.4  紅外光譜與拉曼光譜的比較
    4.6.5  拉曼光譜的應用
  參考文獻
第5章  電子能譜分析
  5.1  概述
  5.2  X射線光電子能譜分析的基本原理
    5.2.1  光與物質的相互作用
    5.2.2  X射線光電子能譜分析的基本原理
    5.2.3  X射線光電子能譜譜圖判讀
  5.3  光電子能譜儀
    5.3.1  概述
    5.3.2  光電子能譜樣品測定
  5.4  X射線光電子能譜的應用
    5.4.1  元素及其離子價態定性分析
    5.4.2  元素的定量分析
    5.4.3  化學結構分析
  5.5  俄歇電子能譜法
    5.5.1  俄歇電子能譜的基本原理
    5.5.2  俄歇電子能譜分析技術
    5.5.3  俄歇電子能譜法的特點及應用
  參考文獻
第6章  發光材料光譜分析
  6.1  激發光譜與發射光譜
    6.1.1  激發光譜與發射光譜測試
    6.1.2  激發光譜與發射光譜分析
  6.2  熱釋光譜
    6.2.1  熱釋光過程的簡單能級模型
    6.2.2  熱釋光譜測試
    6.2.3  熱釋光譜分析

  參考文獻
第7章  核磁共振
  7.1  核磁共振基礎原理
    7.1.1  基本概念
    7.1.2  NMR核的判別規則
    7.1.3  塞曼能級
    7.1.4  平衡態與玻耳茲曼分佈
    7.1.5  核磁共振理論
    7.1.6  孤立核磁矩在磁場中的運動形式
    7.1.7  穩態布洛赫方程
    7.1.8  宏觀物質的核自旋體系的布洛赫方程
  7.2  核磁共振結果分析
    7.2.1  化學位移
    7.2.2  自旋耦合
    7.2.3  積分強度
    7.2.4  譜寬
    7.2.5  NMR的相對靈敏度
    7.2.6  內部標準物質
    7.2.7  NMR數據表示法
  7.3  核磁共振譜儀
    7.3.1  儀器的主要結構
    7.3.2  變溫系統
    7.3.3  技術參數
    7.3.4  核磁共振分析的一般步驟
    7.3.5  應用實例
  參考文獻
第8章  分析測試方法知識體再整合
  8.1  概述
    8.1.1  分析測試方法與分析測試項目
    8.1.2  分析測試方法知識體系再整合
  8.2  寬頻隙MgxZn1-xO薄膜的分析測試
    8.2.1  分析測試方法選擇
    8.2.2  硅襯底上MgxZn1-xO薄膜的組成分析
    8.2.3  硅襯底上MgxZn1-xO薄膜物相和晶體結構分析
    8.2.4  Si襯底上不同濺射時間MgxZn1-xO薄膜的表面形貌分析
    8.2.5  Si（100）襯底上不同濺射時間MgxZn1-xO薄膜的發光性能分析
  8.3  YAG:Ce3+熒光粉超細粉體分析測試
    8.3.1  分析測試方法選擇
    8.3.2  物相和晶體結構分析
    8.3.3  YAG:Ce3+熒光粉顆粒形貌分析
    8.3.4  Ce3+的摻雜量對粉體發光性能的影響
  8.4  Sr3SiO5:Eu2+熒光粉的分析測試
    8.4.1  分析測試方法選擇
    8.4.2  DSC/TG分析
    8.4.3  淬冷法研究Sr3SiO5:Eu2+降溫過程分解反應和分解溫度
  參考文獻

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