同類熱銷排行榜

顆粒表徵的光學技術及應用(精)

作者：許人良|責編:李曉紅
出版社：化學工業
ISBN：9787122412690

出版日期：2022/08/01
裝幀：精裝
頁數：412

人民幣：RMB 168 元售價：元

內容大鋼

本書系統總結了顆粒測量的基本原理和各種表徵方法，包括光散射技術，以及光學計數法、激光粒度法、光學圖像分析法、顆粒跟蹤分析法、動態光散射法和電泳光散射法等，涵蓋了近年來的技術發展以及市場上新型的儀器產品，對每種技術相關的儀器構造與使用、數據採集與結果分析進行了詳細說明。關於顆粒表徵的標準化也進行了專門的介紹。
本書適合於顆粒表徵和光學領域的科研人員、高校教師和學生、企業相關技術人員閱讀。

作者介紹

許人良|責編:李曉紅

第1章  顆粒體系與顆粒表徵
  1.1  顆粒與顆粒體系
  1.2  樣品製備
    1.2.1  取樣過程
    1.2.2  獲取實驗室樣品
    1.2.3  實驗室樣品的縮分
    1.2.4  最少待測樣品量
    1.2.5  樣品分散
  1.3  顆粒測量數據及其統計分析
    1.3.1  數據的統計表達形式
    1.3.2  基本統計參數
    1.3.3  平均值
    1.3.4  顆粒表徵中的等效球
    1.3.5  分佈的解析度
    1.3.6  測量質量
  參考文獻
第2章  光散射的理論背景
  2.1  光散射現象與技術
  2.2  光散射理論要點
    2.2.1  光散射幾何
    2.2.2  單個顆粒的光散射
    2.2.3  顆粒的時間平均散射強度
    2.2.4  顆粒的散射強度漲落
  2.3  其他光學技術
    2.3.1  靜態光散射
    2.3.2  濁度法
    2.3.3  背散射測量
    2.3.4  顆粒場圖像全息法
    2.3.5  穿越時間測量
    2.3.6  飛行時間測量
    2.3.7  聚焦光束反射法
    2.3.8  頻率域光子遷移
    2.3.9  相位Doppler法
    2.3.10  熒光相關光譜
  參考文獻
第3章  光學計數法
  3.1  引言
  3.2  儀器構造
    3.2.1  光源
    3.2.2  體積測量儀的光學
    3.2.3  原位光譜儀的光學
    3.2.4  光學響應
    3.2.5  樣品部分
    3.2.6  電子系統
  3.3  測量結果與數據分析
    3.3.1  校準
    3.3.2  光學顆粒計數器參數測量
    3.3.3  粒徑測量下限
    3.3.4  粒徑測量的準確性
    3.3.5  粒徑測量解析度

    3.3.6  計數的效率與準確性
    3.3.7  液體監視器的數據分析
  參考文獻
第4章  激光粒度法
  4.1  引言
  ……
第5章  光學圖像分析法
第6章  顆粒跟蹤分析法
第7章  動態光散射法
第8章  電泳光散射法
第9章  顆粒表徵的標準化
第10章  其他顆粒表徵技術概述
附錄1  符號
附錄2  Mie理論的球散射函數
附錄3  常用液體的物理常數
附錄4  常用分散劑
附錄5  用於分散一些粉體材料的液體與分散劑

Δ訂單支付
付款方式
運費計算方式

Δ關於我們
關於美商天龍
聯絡我們

首頁│ 新手上路│ 客服中心│ 關於我們│ 聯絡我們│ Top↑│
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話：02-2381-2033 02-2381-1863　時間：週一-週五 10:00-17:00
　服務信箱：bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證：浙B2-20060032

同類熱銷排行榜

最近瀏覽的商品

顆粒表徵的光學技術及應用(精)