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材料分析方法(第4版十二五普通高等教育本科國家級規劃教材)

  • 作者：編者:周玉|責編:馮春生
  • 出版社：機械工業
  • ISBN：9787111653509
  • 出版日期：2020/08/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：386
人民幣：RMB 65 元      售價：元
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內容大鋼
    本書主要包括材料X射線衍射分析和材料電子顯微分析兩大部分內容。書中介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。其內容包括：X射線物理學基礎、X射線的衍射基礎、多晶物相分析、應力測量與分析、多晶體織構測量、三維X射線顯微鏡、電子光學及電子顯微學基礎、透射電子顯微鏡的結構與工作原理、電子衍射和衍襯成像分析、高分辨透射電子顯微術、分析透射電子顯微術、掃描電子顯微鏡和電子探針、電子背散射衍射分析技術和其他顯微分析方法以及實驗指導。書中的實例分析著重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。
    本書可以作為材料科學與工程學科的本科生和研究生教材或教學參考書，也可供材料成型及控制工程等其他專業師生和從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員學習參考。
作者介紹
編者:周玉|責編:馮春生
    周玉，1955年7月生。博士，教授，中國工程院院士、亞太材料科學院院士、世界陶瓷學院院士。1982年1月?1989年3月獲哈爾濱工業大學金屬材料及工藝系學士、碩士和博士學位。曾留學于日本東京大學和英國利茲大學。現任哈爾濱工業大學教授、博士生導師、校長。兼任國際陶瓷聯盟秘書長兼司庫、中國硅酸鹽學會副理事長；中國機械工程學會常務理事、熱處理分會理事長；國家自然科學基金委員會工程與材料學部專家咨詢委員會委員；國務院學位委員會委員、材料科學與工程學科評議組召集人；教育部高等學校材料類專業教學指導委員會主任；中國高教學會常務理事等學術兼職。主要從事陶瓷的相變與韌化、陶瓷複合材料製備、組織結構與性能表徵、抗熱震與耐燒蝕性能及其在航天防熱部件上的應用等研究。發明了多個體系的新型防熱陶瓷複合材料，並成功應用於航天型號。獲國家技術發明二等獎1項，省部級科技一等獎3項、二等獎7項；獲國家發明專利60余項；出版專著及教材5部，獲全國高校優秀教材一等獎1項，獲國家優秀教學成果二等獎2項；發表SCI、EI收錄主要學術論文400余篇；另外，在《光明日報》《中國教育報》《中國大學教學》《高等工程教育研究》等報刊雜誌與國內外會議上發表高等教育管理文章數十篇，多次在高等教育會議和論壇上做報告。已培養博士、碩士各40余名。曾獲國家傑出青年基金資助和國家「有突出貢獻的中青年專家」「中國青年科學家獎」「橋口隆吉基金獎」、航天總公司「航天獎」等榮譽稱號。     2009年當選為中國工程院院士。
目錄
第4版前言
第3版前言
第2版前言
第1版前言
緒論
第一篇  材料X射線衍射分析
  第一章  X射線物理學基礎
    第一節  X射線的基本性質
    第二節  X射線的產生及X射線譜
    第三節  X射線與物質的相互作用
    習題
  第二章  X射線的衍射基礎
    第一節  幾何晶體學簡介
    第二節  X射線晶體衍射原理
    第三節  布拉格定律的相關討論
    第四節  倒易空間的衍射方程式及埃瓦爾德圖解
    第五節  多晶體衍射花樣的形成
    第六節  原子散射因子和幾何結構因子
    第七節  洛倫茲因子
    第八節  衍射強度的其他影響因素與積分強度公式
    習題
  第三章  多晶物相分析
    第一節  照相法
    第二節  衍射儀法
    第三節  定性物相分析
    第四節  定量物相分析
    第五節  點陣參數測定
    習題
  第四章  應力測量與分析
    第一節  測量原理
    第二節  測量方法
    第三節  數據處理方法
    第四節  三維應力及薄膜應力測量
    習題
  第五章  多晶體織構測量
    第一節  織構分類
    第二節  極圖及其測量
    第三節  反極圖及其測量
    第四節  三維取向分佈函數
    習題
  第六章  三維X射線顯微鏡
    第一節  三維X射線顯微鏡的結構
    第二節  X射線電腦斷層成像
    第三節  X射線衍射襯度斷層成像
    第四節  三維X射線顯微鏡在材料學研究中的應用
    習題
第二篇  材料電子顯微分析
  第七章  電子光學及電子顯微學基礎
    第一節  電子波與電磁波
    第二節  電磁透鏡的像差與解析度

    第三節  電磁透鏡的景深和焦長
    第四節  電子束與固體樣品作用時產生的信號
    習題
  第八章  透射電子顯微鏡的結構與工作原理
    第一節  透射電子顯微鏡的結構與成像原理
    第二節  主要部件的結構與工作原理
    第三節  透射電子顯微鏡解析度和放大倍數的測定
    習題
  第九章  電子衍射和衍襯成像分析
    第一節  概述
    第二節  電子衍射原理
    第三節  電子顯微鏡中的電子衍射
    第四節  單晶體電子衍射花樣標定
    第五節  複雜電子衍射花樣
    第六節  薄膜樣品的製備方法
    第七節  薄晶體衍射襯度成像原理
    第八節  衍射運動學理論
    第九節  衍襯動力學簡介
    第十節  晶體缺陷分析
    習題
  第十章  高分辨透射電子顯微術
    第一節  高分辨透射電子顯微鏡的結構特徵
    第二節  高分辨電子顯微像的原理
    第三節  高分辨透射電子顯微術在材料科學中的應用
    第四節  高分辨透射電子顯微術應用實例詳解
    習題
  第十一章  分析透射電子顯微術
    第一節  電子與物質的相互作用
    第二節  掃描透射電子顯微術
    第三節  原子解析度EDS
    第四節  電子能量損失譜及能量過濾成像
    習題
  第十二章  掃描電子顯微鏡和電子探針
    第一節  掃描電子顯微鏡的系統結構與工作原理
    第二節  環境掃描電子顯微鏡的工作原理及應用
    第三節  掃描電子顯微鏡的主要性能
    第四節  表面形貌襯度原理及其應用
    第五節  原子序數襯度原理及其應用
    第六節  電子探針儀的結構與工作原理
    第七節  電子探針儀的分析方法及應用
    習題
  第十三章  電子背散射衍射分析技術
    第一節  概述
    第二節  電子背散射衍射技術相關晶體學取向基礎
    第三節  電子背散射衍射技術硬體系統
    第四節  電子背散射衍射技術原理及花樣標定
    第五節  電子背散射衍射技術成像及分析
    第六節  電子背散射衍射技術數據處理
    習題
  第十四章  其他顯微分析方法

    第一節  離子探針顯微分析
    第二節  低能電子衍射分析
    第三節  俄歇電子能譜分析
    第四節  場離子顯微鏡與原子探針
    第五節  掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡
    第六節  X射線光電子能譜分析
    第七節  紅外光譜
    第八節  激光拉曼光譜
    第九節  紫外-可見吸收光譜
    第十節  原子發射光譜
    第十一節  原子吸收光譜
    第十二節  核磁共振
    習題
實驗指導
  實驗一  用X射線衍射儀進行多晶體物質的相分析
  實驗二  宏觀殘餘應力的測定
  實驗三  金屬板織構的測定
  實驗四  透射電子顯微鏡結構原理及明暗場成像
  實驗五  選區電子衍射與晶體取向分析
  實驗六  掃描電子顯微鏡的結構原理及圖像襯度觀察
  實驗七  電子背散射衍射技術的工作原理與菊池花樣觀察及標定
  實驗八  電子背散射衍射技術的數據處理及其分析應用
  實驗九  電子探針結構原理及分析方法
附錄
  附錄A  物理常數
  附錄B  質量吸收係數μ1/ρ
  附錄C  原子散射因子f
  附錄D  各種點陣的結構因子F2HKL
  附錄E  粉末法的多重性因數Phkl
  附錄F  角因數1+cos22θ/sin2θcosθ
  附錄G  德拜函數φ(x)/x+1/4之值
  附錄H  某些物質的特徵溫度Θ
  附錄I  1/2(cos2θ/sinθ+cos2θ/θ)的數值
  附錄J  應力測定常數
  附錄K  立方系晶面間夾角
  附錄L  常見晶體標準電子衍射花樣
  附錄M  立方與六方晶體可能出現的反射
  附錄N  特徵X射線的波長和能量表
參考文獻

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