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材料分析測試技術--材料X射線衍射與電子顯微分析(第2版高等學校經典暢銷教材)

  • 作者：編者:周玉//武高輝
  • 出版社：哈爾濱工業大學
  • ISBN：9787560313382
  • 出版日期：2007/08/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：311
人民幣：RMB 36.8 元      售價：元
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內容大鋼
    周玉、武高輝編著的《材料分析測試技術--材料X射線衍射與電子顯微分析(第2版高等學校經典暢銷教材)》介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。內容包括：X射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及X射線衍射儀、物相分析、宏觀應力測定、晶體的極射赤面投影、多晶體織構分析、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時，簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法，書末配有實驗指導和附錄。書中的實例分析注重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。
    本書可作為材料科學與工程學科的本科生教材或教學參考書，也可供從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員參考。
作者介紹
編者:周玉//武高輝
目錄
第0章  緒論
第1章  X射線的性質
  1.1  引言
  1.2  X射線的本質
  1.3  X射線的產生及X射線管
  1.4  X射線譜
  1.5  X射線與物質的相互作用
  1.6  X射線的安全防護
  習題
第2章  X射線衍射方向
  2.1  引言
  2.2  晶體幾何學基礎
  2.3  衍射的概念與布拉格方程
  2.4  X射線衍射方向
  2.5  X射線衍射方法
  習題
第3章  X射線衍射強度
  3.1  引言
  3.2  結構因子
  3.3  多晶體的衍射強度
  3.4  積分強度計算舉例
  習題
第4章  多晶體分析方法
  4.1  引言
  4.2  粉末照相法
  4.3  X射線衍射儀
  4.4  衍射儀的測量方法與實驗參數
  4.5  點陣常數的精確測定及其誤差分析
  習題
第5章  X射線物相分析
  5.1  引言
  5.2  定性分析的原理和分析思路
  5.3  粉末衍射卡片的組成
  5.4  PDF卡片的索引
  5.5  物相定性分析方法
  5.6  物相定量分析
  習題
第6章  宏觀應力測定
  6.1  引言
  6.2  單軸應力測定原理
  6.3  平面應力測定原理
  6.4  試驗方法
  6.5  試驗精度的保證及測試原理的適用條件
  習題
第7章  晶體的極射赤面投影
  7.1  球面投影
  7.2  極射赤面投影和吳里夫網
  7.3  極射赤面投影的性質及其應用
  7.4  晶帶的極射赤面投影
  7.5  標準投影圖
  習題
第8章  多晶體織構分析
  8.1  冷拉金屬絲織構的測定
  8.2  絲織構的極圖和反極圖
  8.3  板織構極圖晶體投影原理及其織構測定
  8.4  冷軋板織構的測定
  8.5  極圖的分析與標定
  習題
第9章  電子光學基礎
  9.1  電子波與電磁透鏡
  9.2  電磁透鏡的像差與解析度
  9.3  電磁透鏡的景深和焦長
  習題
第10章  透射電子顯微鏡
  10.1  透射電子顯微鏡的結構與成像原理
  10.2  主要部件的結構與工作原理
  10.3  透射電子顯微鏡解析度和放大倍數的測定
  習題
第11章  復型技術
  11.1  概述
  11.2  質厚襯度原理
  11.3  一級復型和二級復型
  11.4  萃取復型與粉末樣品
  習題
第12章  電子衍射
  12.1  概述
  12.2  電子衍射原理
  12.3  電子顯微鏡中的電子衍射
  12.4  單晶體電子衍射花樣標定
  12.5  複雜電子衍射花樣
  習題
第13章  晶體薄膜衍襯成像分析
  13.1  概述
  13.2  薄膜樣品的製備
  13.3  衍襯成像原理
  13.4  消光距離
  13.5  衍襯運動學簡介
  13.6  晶體缺陷分析
  習題
第14章  掃描電子顯微鏡
  14.1  電子束與固體樣品作用時產生的信號
  14.2  掃描電子顯微鏡的構造和工作原理
  14.3  掃描電子顯微鏡的主要性能
  14.4  表面形貌襯度原理及其應用
  14.5  原子序數襯度原理及其應用
  14.6  背散射電子衍射分析及其應用
  習題
第15章  電子探針顯微分析
  15.1  電子探針儀的結構與工作原理
  15.2  電子探針儀的分析方法及應用
  習題
第16章  其他顯微分析方法簡介
  16.1  離子探針
  16.2  低能電子衍射
  16.3  俄歇電子能譜儀
  16.4  場離子顯微鏡
  16.5  掃描隧道顯微鏡(STM)與原子力顯微鏡(AFM)
  16.6  X射線光電子能譜儀
  習題
實驗指導
  實驗一  X射線晶體分析儀介紹及單相立方晶系物質粉末相計算
  實驗二  利用X射線衍射儀進行多相物質的相分析
  實驗三  透射電子顯微鏡的結構、樣品製備及觀察
  實驗四  掃描電子顯微鏡、電子探針儀結構與樣品分析
附錄
  附錄1  物理常數
  附錄2  質量吸收係數戶μι/ρ
  附錄3  原子散射因數
  附錄4  各種點陣的結構因數
  附錄5  粉末法的多重性因數
  附錄6  角因數
  附錄7  德拜函數之值
  附錄8  某些物質的特徵溫度
  附錄9  數值
  附錄10  立方系晶面間夾角
  附錄11  常見晶體標準電子衍射花樣
  附錄12  特徵X射線的波長和能量表
  附錄13  元素的物理性質
  附錄14  鋼中相的電子衍射花樣標定用數據表
  附錄15  一些物質的晶面間距
  附錄16  立方與六方晶體可能出現的反射
主要參考文獻
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