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X射線熒光分析系統技術原理和應用

  • 作者：庹先國
  • 出版社：原子能
  • ISBN：9787502282349
  • 出版日期：2017/07/01
  • 裝幀：平裝
  • 頁數：210
人民幣：RMB 56 元      售價：元
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內容大鋼
    庹先國著的這本《X射線熒光分析系統技術原理和應用》共11章：第1章扼要介紹X射線基本知識；第2章為X射線熒光分析原理，主要介紹X射線與物質相互作用的三大效應，以及特徵X射線能譜知識；第3章為X射線能譜分析方法，主要介紹了X射線能譜分析中常用的演算法，並著重介紹了探測器響應函數擬合法；第4章為能量色散X射線熒光的定量分析，詳細敘述基體效應的校正、常用的定量計算方法和神經網路方法；第5章為X射線初級輻射激發源，對X射線管、放射性同位素源和加濾光片激發方式做了詳細敘述；第6章主要對目前廣泛應用於X射線熒光分析中的Si(Li)、Si-PIN、SDD半導體探測器做詳細介紹，扼要介紹了偏振X射線熒光探測技術、預衍射X射線熒光探測技術；第7章詳細介紹能量色散X射線熒光分析系統中的硬體設計，特別是涉及的一些重要電路進行介紹；第8章詳細介紹Windows環境下和LinuX環境下能量色散X射線熒光分析系統中的軟體設計；第9章詳細介紹能量色散X射線熒光分析系統測試的方法技術要點；第10章扼要介紹能量色散X射線熒光分析在礦石品位、礦產勘查、冶金等工業領域中的應用；第11章介紹在環境評價及其他領域中的應用。
作者介紹
庹先國
目錄
第1章 X射線基本知識
  1.1 原子結構
    1.1.1 原子結構模型
    1.1.2 原子核的組成
    1.1.3 核外電子排布
  1.2 X射線及其特點
  1.2 1 X射線的發現
    1.2.2 X射線的性質
    1.2.3 X射線的特點
  1.3 X射線的激發
  參考文獻
第2章 X射線熒光分析原理
  2.1 莫塞萊定律
  2.2 X射線在物質中的物理作用
    2.2.1 簡介
    2.2.2 X射線與物質相互作用原理
  2.3 特徵X射線能譜
    2.3.1 全能峰分佈
    2.3.2 散射譜線與譜線拖尾
    2.4.X射線熒光計數率計算
  參考文獻
第3章 X射線能譜分析方法
  3.1 能量刻度
  3.2 剝譜法
  3.3 逆矩陣法
  3.4 加權最小二乘法
  3.5 探測器響應函數擬合法
    3.5.1 SDD和Si—PIN探測器響應函數的組成
    3.5.2 擬合優度評價因子
  參考文獻
第4章 能量色散X射線熒光的定量分析
  4.1 基體效應
    4.1.1 影響基體效應的因素
    4.1.2 基體效應的校正方法
  4.2 定量計算方法
    4.2.1 比值分析方法
    4.2.2 工作曲線分析方法
    4.2.3 譜庫最小二乘法
  4.3 神經網路非線性預測
    4.3.1 自組織特徵映射網路
    4.3.2 徑向基函數網路
    4.3.3 神經網路校正技術的應用
  4.4 X射線熒光分析檢出限
    4.4.1 X射線熒光分析的檢出限
    4.4.2 檢出限的基本公式推導
    4.4.3 改善檢出限的方法
  參考文獻
第5章 X射線初級輻射激發源
  5.1 X射線管
    5.1.1 X射線管的工作原理

    5.1.2 典型X射線管的結構特點
    5.1.3 特殊構造的X射線管
  5.2 放射性同位素源
    5.2.1 同位素源的要求與特點
    5.2.2 同位素放射源的組成
    5.2.3 幾種常用的放射性同位素源
  5.3 加濾光片的直接激發方式
    5.3.1 濾片工作原理
    5.3.2 濾片厚度的理論計算
    5.3.3 濾片的製作工藝簡述
    5.3.4 濾片平衡性的測定和調整
  參考文獻
第6章 X射線熒光的探測
  6.1 X射線探測器
    6.1.1 半導體探測器的主要性能
    6.1.2 Si(Li)探測器
    6.1.3 Si-PIN探測器
    6.1.4 SDD探測器
    6.1.5 Si-PIN與SDD的比較
  6.2 偏振X射線熒光探測技術
    6.2.1 X射線熒光偏振化技術的原理
    6.2.2 偏振能量色散X射線熒光譜儀的結構
    6.2.3 激發源
……
第7章 能量色散X射線熒光分析硬體設計
第8章 能量色散X射線熒光分析軟體設計
第9章 能量色散X射線熒光分析系統測試
第10章 工業分析領域中的應用
第11章 環境評價及其他領域中的應用
附錄

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