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透射電子顯微學(下第2版)(精)/材料科學經典著作選譯

  • 作者：(美)威廉斯//卡特|譯者:李建奇//楊槐馨//田煥芳
  • 出版社：高等教育
  • ISBN：9787040524130
  • 出版日期：2019/11/01
  • 裝幀：精裝
  • 頁數：649
人民幣：RMB 129 元      售價：元
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內容大鋼
    本書對透射電子顯微鏡的構造、實驗技術的原理和應用進行了詳細介紹。第二版已對第一版內容進行了修訂和更新。解釋了為什麼需要用到這一特殊的技術以及如何將這一特定概念運用到實踐中。全書共4篇，總計40章。第一篇主要介紹一些與透射電子顯微鏡相關的基本概念，包括電子衍射的基礎知識、儀器的構造與功能，以及透射電子顯微鏡樣品的製備等。第二篇主要介紹電子衍射的基本原理、不同的電子衍射實驗技術，以及對電子衍射的理論描述。第三篇主要介紹成像的基本原理和各種成像類型、不同的成像技術，以及對實驗圖像的處理、分析和理論模擬。第四篇主要介紹×射線能譜和電子能量損失譜的基本原理和應用，以及與之相關的各種實驗技術。全書有近700張圖表，在英文版中全為彩圖，而在中譯本中大部分為黑白圖，但並不影響所表達的意思。中譯本將全書分成兩冊，即將英文版的第一篇和第二篇作為上冊，將第三篇和第四篇作為下冊。
    本書可作為高等院校高年級本科生和研究生的教材，也可作為電子顯微學分析等相關領域研究人員的參考用書。
作者介紹
(美)威廉斯//卡特|譯者:李建奇//楊槐馨//田煥芳
目錄
第三篇  成像原理
  第22章  振幅襯度
    章節預覽
    22.1  什麼是襯度？
    22.2  振幅襯度
      22.2.1  圖像和衍射花樣
      22.2.2  物鏡光闌和sTEM探頭的使用：明場像和暗場像
    22.3  質-厚襯度
      22.3.1  質-厚襯度的原理
      22.3.2  TEM圖像
      22.3.3  STEM圖像
      22.3.4  質-厚襯度樣品
      22.3.5  定量質-厚襯度
    22.4  Z襯度
    22.5  TEM衍射襯度
      22.5.1  雙束條件
      22.5.2  設置偏離參量s
      22.5.3  拍攝雙束CDF圖像
      22.5.4  圖像和衍射花樣的關係
    22.6  STEM衍射襯度
    章節總結
    參考文獻
    自測題
    章節具體問題
  第23章  相位襯度成像
    章節預覽
    23.1  介紹
    23.2  晶格條紋像的起源
    23.3  晶格條紋像的實踐觀察
      23.3.1  s=0的情況
      23.3.2  s≠0的情況
    23.4  正帶軸晶格條紋像
    23.5  莫爾條紋
      23.5.1  平移莫爾條紋
      23.5.2  旋轉莫爾條紋
      23.5.3  一般莫爾條紋
    23.6  實驗觀察莫爾條紋
      23.6.1  平移莫爾條紋
      23.6.2  旋轉莫爾條紋
      23.6.3  位錯和莫爾條紋
      23.6.4  複雜莫爾條紋
    23.7  菲涅耳襯度
      23.7.1  菲涅耳雙稜鏡
      23.7.2  磁疇壁
    23.8  孔洞或氣泡的菲涅耳襯度
    23.9  晶格缺陷的菲涅耳襯度
      23.9.1  晶界
      23.9.2  露頭位錯
    章節總結
    參考文獻

    自測題
    章節具體問題
  第24章  厚度效應和彎曲效應
    章節預覽
    24.1  基本原理
    24.2  厚度條紋
    24.3  厚度條紋和衍射花樣（DP）
    24.4  彎曲輪廓（討厭的瑕疵、有用的工具、珍貴的觀點）
    24.5  ZAP和實空間晶體學
    24.6  凸起、凹陷和鞍狀彎曲
    24.7  吸收效應
    24.8  厚度條紋的電腦模擬
  ……
第四篇  能譜分析
索引

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