同類熱銷排行榜

非金屬礦物加工設計與分析/非金屬礦物精細化加工系列

作者：編者:楊華明//歐陽靜
出版社：化學工業
ISBN：9787122324399

出版日期：2020/01/01
裝幀：平裝
頁數：206

人民幣：RMB 78 元售價：元

內容大鋼

本書圍繞非金屬礦物精細化加工過程中主要使用的實驗設計方法、檢測分析方法進行介紹，主要包括：實驗設計的必要性和單因素實驗、正交試驗設計、礦物岩相分析、礦物成分分析、晶體結構分析與計算、表面和內部形貌分析、界面分析技術、熱分析、紅外吸收光譜分析等技術，還具體介紹了典型非金屬礦物的相應最新表徵測試結果。本書對主要非金屬礦物的實驗研究、數據查閱、應用推廣等有重要的參考價值。
全書內容豐富、實用性強，可供廣大從事非金屬礦物材料、無機非金屬材料、複合材料以及礦物加工、非金屬礦深加工和化工、環境工程等科研技術人員參考，也可供大專院校無機非金屬材料、礦物材料等相關專業師生作為教學參考書或教材。

作者介紹

編者:楊華明//歐陽靜

第1章  緒論
  1.1  礦物分析研究方法的發展歷史
  1.2  礦物分析測試的一般方法
  1.3  非金屬礦物加工的測試技術
第2章  單因素實驗
  2.1  單因素實驗的方差分析
  2.2  單因素優化實驗方法
    2.2.1  均分法
    2.2.2  對分法
    2.2.3  黃金分割法
第3章  礦物加工的正交試驗設計
  3.1  正交表的概念
    3.1.1  問題的提出——多因素的實驗問題
    3.1.2  正交表的形式
  3.2  正交表的構造
    3.2.1  LmN(mk)型正交表的構造
    3.2.2  混合型正交表的構造
  3.3  正交試驗的基本步驟
  3.4  正交試驗設計結果的分析方法
    3.4.1  直觀分析法
    3.4.2  方差分析法
第4章  礦物岩相分析技術
  4.1  晶體學基礎
    4.1.1  幾何結晶學
    4.1.2  晶體的光學特性
  4.2  偏光顯微鏡分析
    4.2.1  偏振光
    4.2.2  偏光顯微鏡
    4.2.3  單偏光鏡下晶體的光學性質
  4.3  反光顯微鏡下研究晶體的方法
    4.3.1  反光顯微鏡的主要構造
    4.3.2  反射光下的觀察
第5章  非金屬礦物成分分析
  5.1  成分分析的要求和分類
    5.1.1  定量分析的過程及分析結果的表示
    5.1.2  定量分析的誤差和分析結果的數據處理
  5.2  化學滴定分析法
    5.2.1  滴定分析法概論
    5.2.2  酸鹼滴定法
    5.2.3  配位滴定法
    5.2.4  氧化還原滴定法
    5.2.5  沉澱滴定法
  5.3  X射線熒光光譜分析法
    5.3.1  X射線熒光光譜的產生機理
    5.3.2  莫塞萊定律
    5.3.3  俄歇效應和熒光產額
    5.3.4  圖表線和非圖表線
    5.3.5  幾種元素的K（或L）系光譜
    5.3.6  X射線熒光強度的理論計算
  5.4  電感耦合等離子體發射光譜法(ICP-AES)

    5.4.1  電感耦合等離子體發射光譜儀概述
    5.4.2  電感耦合等離子體發射光譜基本原理
第6章  礦物晶體X射線衍射技術
  6.1  X射線的產生與特點
    6.1.1  X射線的本質
    6.1.2  X射線的產生裝置
    6.1.3  X射線譜
    6.1.4  X射線的散射
    6.1.5  X射線的吸收
  6.2  X射線衍射基礎理論
    6.2.1  勞厄方程
    6.2.2  布拉格方程
    6.2.3  倒易點陣
    6.2.4  衍射矢量方程
    6.2.5  厄瓦爾德圖解法
  6.3  粉末衍射儀原理與結構
    6.3.1  粉末衍射錐
    6.3.2  測角儀
  6.4  X射線衍射譜
    6.4.1  X射線衍射譜構成
    6.4.2  X射線衍射譜分析方法
  6.5  利用X射線衍射的物相定性分析
    6.5.1  定性分析原理
    6.5.2  PDF卡片與檢索
    6.5.3  物相定性分析的方法
  6.6  利用X射線衍射的物相定量分析
    6.6.1  定量分析原理與方法
    6.6.2  內標法
    6.6.3  基本清洗法
    6.6.4  晶格常數測定
    6.6.5  晶粒尺寸計算
第7章  掃描電子顯微鏡及礦物能譜分析技術
  7.1  基本原理與儀器構造
    7.1.1  基本原理
    7.1.2  儀器構造
    7.1.3  成像原理
    7.1.4  試樣製備
    7.1.5  試樣測試與分析
    7.1.6  材料科學方面的應用
  7.2  X射線能量分佈譜技術
    7.2.1  基本原理
    7.2.2  能譜儀的結構和工作原理
    7.2.3  能譜儀的操作要點
    7.2.4  能譜儀偽峰的識別
    7.2.5  能譜MCS分析模式
第8章  透射電子顯微鏡技術及非金屬礦物形貌
  8.1  透射電子顯微鏡的原理和構造
    8.1.1  電子光學原理簡述
    8.1.2  電子顯微鏡的構造
  8.2  電子衍射原理及其分析方法

    8.2.1  電子衍射原理簡介
    8.2.2  電子衍射實驗方法
    8.2.3  標定電子衍射的一般程序
  8.3  典型非金屬礦物的TEM分析
第9章  原子力顯微鏡及在礦物中的應用
  9.1  前言
  9.2  成像原理和儀器學
    9.2.1  結構和成像原理
    9.2.2  AFM探針
  9.3  原子力顯微鏡成像模式
    9.3.1  動態模式原子力顯微術
    9.3.2  多頻激勵模式原子力顯微術
    9.3.3  多次諧波模式原子力顯微術
  9.4  原子力顯微鏡在礦物材料中的應用
    9.4.1  天然黏土礦物表面組成和表面結構
    9.4.2  在礦物改性中的應用
    9.4.3  納米材料與粉體材料的分析
    9.4.4  成分分析
第10章  熱分析技術及在非金屬礦中的應用
  10.1  熱分析技術原理與分類
    10.1.1  熱分析技術原理
    10.1.2  熱分析儀器
  10.2  差熱分析原理與應用
    10.2.1  差熱分析的原理
    10.2.2  差熱法的應用
  10.3  熱重分析原理與應用
    10.3.1  熱重分析的原理
    10.3.2  熱重法的應用
  10.4  差示掃描量熱技術原理與分析
    10.4.1  差示掃描量熱法的特點
    10.4.2  差示掃描量熱技術的基本原理及理論
  10.5  熱分析動力學
    10.5.1  熱分析動力學基礎
    10.5.2  熱分析動力學分析方法
  10.6  典型非金屬礦的熱分析結果
    10.6.1  硅酸鹽礦物的熱特性
    10.6.2  硫酸鹽礦物的熱特性
第11章  非金屬礦的紅外光譜分析技術
  11.1  紅外線的性質
  11.2  分子振動類型
    11.2.1  伸縮振動
    11.2.2  彎曲振動
  11.3  紅外光譜的性質
    11.3.1  紅外輻射和吸收
    11.3.2  紅外光譜的特點
    11.3.3  紅外光譜與拉曼光譜
  11.4  紅外光譜儀的構造原理
    11.4.1  紅外光源
    11.4.2  光闌
    11.4.3  干涉儀

    11.4.4  檢測器
  11.5  典型非金屬礦的紅外光譜分析
    11.5.1  島狀硅酸鹽
    11.5.2  環狀硅酸鹽礦物
    11.5.3  鏈狀硅酸鹽礦物
    11.5.4  層狀硅酸鹽礦物
    11.5.5  架狀硅酸鹽礦物
參考文獻

Δ訂單支付
付款方式
運費計算方式

Δ關於我們
關於美商天龍
聯絡我們

首頁│ 新手上路│ 客服中心│ 關於我們│ 聯絡我們│ Top↑│
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話：02-2381-2033 02-2381-1863　時間：週一-週五 10:00-17:00
　服務信箱：bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證：浙B2-20060032

同類熱銷排行榜

最近瀏覽的商品

非金屬礦物加工設計與分析/非金屬礦物精細化加工系列