幫助中心 | 我的帳號 | 關於我們

現代材料分析方法(工程應用型高等學校教材)

  • 作者:編者:張銳
  • 出版社:化學工業
  • ISBN:9787122008152
  • 出版日期:2019/02/01
  • 裝幀:平裝
  • 頁數:245
人民幣:RMB 38 元      售價:
放入購物車
加入收藏夾

內容大鋼
    張銳主編的《現代材料分析方法》對材料研究過程中常用的分析方法進行介紹,包括X射線衍射分析、紅外吸收光譜、激光拉曼光譜、核磁共振譜、紫外-可見光譜、熒光光譜及各種電子顯微鏡等,其內容涉及高分子材料、金屬材料、無機非金屬材料、複合材料等綜合領域。本書主要是結合實例進行講解,注重實用性,能提高材料類專業學生從事材料研究所必需的實際技能。
    本書可以作為材料科學與工程及相關專業本科生、研究生的專業基礎課教材,也可以作為材料科學與工程相關實驗教師培訓參考書。

作者介紹
編者:張銳

目錄
第1章  緒論
  1.1  材料的組織結構與性能
    1.1.1  組織結構與性能的關係
    1.1.2  微觀組織結構控制
  1.2  顯微組織結構的內容
  1.3  材料分析技術與材料的關係
  1.4  分析技術簡介
    1.4.1  X射線衍射
    1.4.2  光譜分析
    1.4.3  核磁共振
    1.4.4  熱分析技術
    1.4.5  表層分析技術
    1.4.6  電子顯微鏡
第2章  X射線衍射分析
  2.1  X射線衍射基本概念
    2.1.1  X射線衍射分析歷史
    2.1.2  X射線的產生及X射線譜
    2.1.3  X射線與物質的相互作用
    2.1.4  光的散射和衍射
  2.2  晶體空間點陣
  2.3  X射線分析法原理
    2.3.1  X射線在晶體中的衍射
    2.3.2  X射線衍射的實驗方法簡介
    2.3.3  小角X射線散射法
    2.3.4  樣品的製備方法簡介
  2.4  多晶體物相分析
    2.4.1  X射線衍射物相分析的基本原理
    2.4.2  物相分析的定性分析
    2.4.3  物相的定量分析
    2.4.4  物質狀態的鑒定
    2.4.5  單晶和多晶取向測定
    2.4.6  晶粒度的測定
    2.4.7  介孔結構測定
    2.4.8  宏觀應力測定
    2.4.9  薄膜厚度和界面結構測定
    2.4.10  多層膜結構測定
  2.5  X射線法最新進展及應用
    2.5.1  同步輻射X射線吸收精細結構方法
    2.5.2  Rietveld方法
    2.5.3  X射線衍射法其他應用
  參考文獻
第3章  紅外吸收光譜
  3.1  引言
    3.1.1  紅外吸收光譜的基本原理
    3.1.2  紅外吸收光譜的基本概念
  3.2  雙原子分子的振動和轉動
    3.2.1  轉子模型
    3.2.2  振子模型
    3.2.3  雙原子分子的紅外振?轉光譜
  3.3  簡正振動

    3.3.1  3n-5或3n-6規則
    3.3.2  簡正坐標和簡正振動
    3.3.3  分子對稱性
  3.4  振動光譜的解釋和應用
    3.4.1  倍頻、組頻、差頻
    3.4.2  配位效應
    3.4.3  Fermi共振和振動耦合
    3.4.4  特徵頻率
  3.5  各類有機化合物的紅外吸收光譜
    3.5.1  烷烴
    3.5.2  烯烴及其他含雙鍵的化合物
    3.5.3  炔烴和其他含?鍵及具有累積雙鍵的化合物
    3.5.4  芳烴和雜芳烴
    3.5.5  含羥基的化合物
    3.5.6  醚、環氧和過氧化合物
    3.5.7  羰基化合物
    3.5.8  胺
    3.5.9  ?胺
    3.5.10  氨基酸和銨鹽
    3.5.11  其他化合物
  3.6  紅外吸收光譜數據小結
  3.7  利用紅外吸收光譜推測有機化合物結構
  參考文獻
第4章  激光拉曼光譜法
  4.1  拉曼散射光譜的基本概念
    4.1.1  瑞利散射、拉曼散射及拉曼位移
    4.1.2  拉曼光譜選律和選擇定則
    4.1.3  拉曼退偏振比
    4.1.4  拉曼光譜圖
  4.2  激光拉曼光譜與紅外光譜比較
  4.3  激光拉曼光譜法實驗技術
    4.3.1  儀器組成
    4.3.2  樣品的處理方法
  4.4  拉曼光譜法在有機材料研究中的應用
    4.4.1  拉曼光譜的選擇定則與分子構象
    4.4.2  高分子材料的拉曼去偏振度及紅外二向色性
    4.4.3  複合材料形變的拉曼光譜研究
  4.5  拉曼光譜法在生物材料和納米材料中的應用
    4.5.1  生物學材料的拉曼散射光譜
    4.5.2  納米材料的某些特性
    4.5.3  碳納米管的拉曼散射
    4.5.4  半導體納米材料的拉曼散射
  參考文獻
第5章  紫外可見光譜及熒光光譜
  5.1  引言
  5.2  紫外可見吸收光譜
    5.2.1  紫外見吸收光譜的基本原理
    5.2.2  紫外見吸收光譜可獲悉的信息
    5.2.3  紫外見吸收光譜的基本概念
    5.2.4  飽和有機化合物的紫外吸收光譜

    5.2.5  不飽和有機化合物的紫外吸收光譜
    5.2.6  紫外吸收光譜的應用
  5.3  熒光光譜
    5.3.1  分子的激發與弛豫
    5.3.2  由熒光光譜可獲悉的信息
    5.3.3  熒光的激發光譜和發射光譜
    5.3.4  熒光分析法的靈敏度和選擇性
    5.3.5  測量方法
    5.3.6  光譜解析
    5.3.7  無機化合物的熒光
    5.3.8  有機化合物的熒光
  5.4  分子的電子光譜在材料研究中的應用
    5.4.1  紫外可見光譜及熒光光譜應用於材料分析
    5.4.2  材料中微量元素或添加劑含量的測定
    5.4.3  電子光譜研究聚合反應動力學
  參考文獻
第6章  核磁共振譜
  6.1  NMR概述
    6.1.1  核磁共振譜的分類
    6.1.2  核磁共振的產生
    6.1.3  化學位移
    6.1.4  自旋的耦合與裂分
  6.2  核磁共振波譜儀及實驗要求
    6.2.1  CW核磁共振儀結構
    6.2.2  核磁共振波譜儀分類和測試原理
    6.2.3  實驗技術
  6.3  1H核磁共振波譜(氫譜)
    6.3.1  屏蔽作用與化學位移
    6.3.2  譜圖的表示方法
    6.3.3  影響化學位移的主要因素
    6.3.4  譜圖解析實例
  6.4  13C核磁共振譜
    6.4.1  13CMR概述
    6.4.2  13CNMR與1HNMR的比較
    6.4.3  影響13C化學位移的因素
    6.4.4  碳核磁譜圖解析和典型實例
  6.5  高分辨NMR在聚合物材料研究中的應用
    6.5.1  有機材料的定性分析
    6.5.2  共聚物組成的測定
    6.5.3  共聚物序列結構的研究
    6.5.4  高分子鍵接方式和異構體的研究
  6.6  核磁共振新技術
    6.6.1  固體NMR在材料結構研究中的應用
    6.6.2  二維NMR譜和材料的NMR成像技術
    6.6.3  NMR儀器的改進
  參考文獻
第7章  熱分析技術
  7.1  熱分析概論
    7.1.1  熱分析技術的發展
    7.1.2  熱分析定義及分類

  7.2  差熱分析與差示掃描量熱法
    7.2.1  DTA與DSC儀器的組成與原理
    7.2.2  差熱分析與差示掃描量熱法峰面積的計算
    7.2.3  影響DTA與DSC曲線的因素
    7.2.4  DTA與DSC數據的標定
  7.3  熱重分析與微商熱重法
    7.3.1  熱重分析與微商熱重法的基本原理
    7.3.2  熱天平的基本結構
    7.3.3  影響熱重數據的因素
    7.3.4  熱重試驗及圖譜辨析
  7.4  熱膨脹法和熱機械分析
    7.4.1  熱膨脹法
    7.4.2  熱機械分析
  7.5  熱分析技術在材料研究中的應用
    7.5.1  材料的結晶行為
    7.5.2  材料液晶的多重轉變
    7.5.3  材料的玻璃化轉變Tg及共聚共混物相容性
    7.5.4  材料的熱穩定性及熱分解機理
    7.5.5  材料的剖析
    7.5.6  動態熱機械分析評價材料的使用性能
  7.6  熱分析聯用技術的發展與熱分析儀器的改進
    7.6.1  熱分析聯用技術
    7.6.2  熱分析儀器的最新進展
  參考文獻
第8章  表面分析技術
  8.1  X射線光電子能譜
    8.1.1  X射線光電子譜基本原理
    8.1.2  結合能
    8.1.3  化學位移
    8.1.4  X射線光電子能譜分析方法
    8.1.5  X射線光電子能譜儀
  8.2  俄歇電子能譜
    8.2.1  俄歇電子能譜的基本原理
    8.2.2  俄歇電子的能量和產額
    8.2.3  俄歇電子能譜分析方法
    8.2.4  俄歇電子能譜儀
    8.2.5  掃描俄歇顯微探針(SAM)
  參考文獻
第9章  掃描電子顯微鏡
  9.1  電子與物質的相互作用
    9.1.1  電子散射
    9.1.2  背散射電子
    9.1.3  二次電子
  9.2  掃描電子顯微鏡結構和成像原理
    9.2.1  掃描電子顯微鏡的工作原理
    9.2.2  掃描電子顯微鏡的結構
    9.2.3  掃描電子顯微鏡的性能
    9.2.4  掃描電子顯微鏡的特點
    9.2.5  樣品製備
    9.2.6  影響電子顯微鏡影像品質的因素

  9.3  場發射掃描電子顯微鏡
    9.3.1  場發射掃描電子顯微鏡的結構
    9.3.2  場發射掃描電子顯微鏡的特點
  9.4  電子探針顯微分析
    9.4.1  EPMA原理和結構
    9.4.2  X射線能譜儀
    9.4.3  X射線波譜儀
    9.4.4  定性分析
    9.4.5  定量分析
  9.5  其他電子成像技術結合EDS分析
  9.6  EMPA掃描電子顯微鏡分析方法和應用
    9.6.1  分析方法
    9.6.2  應用
  參考文獻
第10章  透射電子顯微鏡
  10.1  電子波與電磁透鏡
    10.1.1  光學顯微鏡的解析度極限
    10.1.2  電子波的波長
    10.1.3  電磁透鏡
    10.1.4  電磁透鏡的像差和解析度
    10.1.5  電磁透鏡的景深和焦長
  10.2  透射電鏡的結構
    10.2.1  照明系統
    10.2.2  成像系統
    10.2.3  觀察記錄系統
  10.3  透射電鏡樣品製備方法
    10.3.1  復型技術
    10.3.2  粉末樣品製備技術
    10.3.3  電解減薄技術
    10.3.4  超薄切片法
    10.3.5  離子減薄技術
    10.3.6  聚焦離子束法
  10.4  電子衍射
    10.4.1  電子衍射原理
    10.4.2  電子衍射圖的分析及標定
    10.4.3  複雜電子衍射花樣
    10.4.4  高分辨電子顯微鏡
  參考文獻
第11章  掃描探針顯微鏡
  11.1  掃描探針顯微鏡概述
    11.1.1  掃描探針顯微鏡的發展歷程
    11.1.2  掃描探針顯微鏡的特點
  11.2  掃描探針顯微鏡的工作原理
    11.2.1  掃描隧道顯微鏡的工作原理
    11.2.2  原子力顯微鏡的工作原理
  11.3  工作方式
    11.3.1  掃描隧道顯微鏡的成像模式
    11.3.2  原子力顯微鏡的成像模式
  11.4  其他類型的掃描探針顯微鏡
    11.4.1  光子掃描隧道顯微鏡

    11.4.2  側向力顯微鏡
    11.4.3  磁力顯微鏡
    11.4.4  靜電力顯微鏡
    11.4.5  化學力顯微鏡
    11.4.6  掃描電化學顯微鏡
    11.4.7  力調製顯微鏡
  11.5  掃描探針顯微鏡在現代材料研究中的應用
    11.5.1  掃描探針顯微鏡在微納技術和超精密加工中的應用
    11.5.2  掃描探針顯微鏡在高分子領域的應用
    11.5.3  掃描探針顯微鏡在微電子技術方面的應用
    11.5.4  應用前景
  參考文獻

  • 商品搜索:
  • | 高級搜索
首頁新手上路客服中心關於我們聯絡我們Top↑
Copyrightc 1999~2008 美商天龍國際圖書股份有限公司 臺灣分公司. All rights reserved.
營業地址:臺北市中正區重慶南路一段103號1F 105號1F-2F
讀者服務部電話:02-2381-2033 02-2381-1863 時間:週一-週五 10:00-17:00
 服務信箱:bookuu@69book.com 客戶、意見信箱:cs@69book.com
ICP證:浙B2-20060032